发明名称 一种用于检测散热膜温度的装置
摘要 本实用新型公开了一种用于检测散热膜温度的装置,包括电源装置、温度控制装置和测温装置,电源装置分别与温度控制装置和测温装置连接,温度控制装置与测温装置连接,测温装置包括测试台、控温板和恒温罩,测试台和控温板设置于恒温罩的内部,控温板设置于测试台四周的侧边位置,恒温罩的罩壁内设置有发热电阻丝,温度控制装置包括第一温控器和第二温控器,第二温控器的内部设置有电源控制器和温控表控制器,第一温控器与恒温罩连接,第二温控器与控温板连接。本实用新型可通过第一温控器检测和控制恒温罩内的环境温度,并通过第二温控器与测温表控制和检测置于测试台上的散热膜的温度,从而测试散热膜的散热降温效果。
申请公布号 CN205538776U 申请公布日期 2016.08.31
申请号 CN201620262180.5 申请日期 2016.03.31
申请人 深圳市铭晶科技有限公司 发明人 高慧俐;涂铭旌;陈锐强
分类号 G01N25/20(2006.01)I 主分类号 G01N25/20(2006.01)I
代理机构 北京联创佳为专利事务所(普通合伙) 11362 代理人 郭防
主权项 一种用于检测散热膜温度的装置,其特征在于:包括电源装置(1)、温度控制装置(2)和测温装置(3),所述电源装置(1)分别与温度控制装置(2)和测温装置(3)连接,温度控制装置(2)与测温装置(3)连接,所述测温装置(3)包括测试台(4)、控温板(5)和恒温罩(6),所述测试台(4)和控温板(5)设置于恒温罩(6)的内部,所述控温板(5)设置于所述测试台(4)四周的侧边位置,所述恒温罩(6)的罩壁内设置有发热电阻丝,所述温度控制装置(2)包括第一温控器(7)和第二温控器(8),第二温控器(8)的内部设置有电源控制器(9)和温控表控制器(10),第一温控器(7)与恒温罩(6)连接,第二温控器(8)与控温板(5)连接。
地址 518055 广东省深圳市南山区留仙大道1183号南山云谷3栋7楼A5
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