发明名称 |
一种红外探测器响应率测试装置 |
摘要 |
一种红外探测器响应率测试装置,包括光学测试平台、设置于光学测试平台上的可在X、Y、Z三个方向移动的三维位移台、固定于光学测试平台一端的黑体支架、光源系统以及测试处理系统,所述光源系统安装于黑体支架上,包括黑体、光阑、滤光片以及黑体控制器,三维位移台上安装有被测探测器,测试处理系统包括测试计算机、测试板卡,测试计算机信号连接黑体控制器,控制黑体辐射温度,黑体发出的辐射信号通过光阑和滤光片垂直入射到被测探测器上,被测探测器信号连接测试板卡,测试板卡与测试计算机电连接,由测试计算机采集测试板卡上的各项测试数据,本装置方法简便实用,测试精度较高,可广泛推广使用。 |
申请公布号 |
CN205537969U |
申请公布日期 |
2016.08.31 |
申请号 |
CN201620104683.X |
申请日期 |
2016.01.29 |
申请人 |
无锡元创华芯微机电有限公司 |
发明人 |
张豪;何旭娇;谈彬武;吕鹏;许勇;周平 |
分类号 |
G01J5/00(2006.01)I;G01J5/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01J5/00(2006.01)I |
代理机构 |
宜兴市天宇知识产权事务所(普通合伙) 32208 |
代理人 |
周舟 |
主权项 |
一种红外探测器响应率测试装置,其特征在于包括光学测试平台、设置于光学测试平台上的可在X、Y、Z三个方向移动的三维位移台、固定于光学测试平台一端的黑体支架、光源系统以及测试处理系统,所述光源系统安装于黑体支架上,包括黑体、光阑、滤光片以及黑体控制器,三维位移台上安装有被测探测器,测试处理系统包括测试计算机、测试板卡,测试计算机信号连接黑体控制器,控制黑体辐射温度,黑体发出的辐射信号通过光阑和滤光片垂直入射到被测探测器上,被测探测器信号连接测试板卡,测试板卡与测试计算机电连接,由测试计算机采集测试板卡上的各项测试数据。 |
地址 |
214200 江苏省无锡市宜兴市经济开发区文庄路15号 |