自动调整用于x射线检测器的信号分析参数

摘要

描述了一种用于自动确定用于x射线检测器(16)的信号分析参数的调整性设定的方法(400)。采用该方法(400)，获取与待检查对象(O)的尺寸、在待检查对象(O)中的x射线衰减、待检查对象(O)的检查性质和检查区域有关的信息。然后基于所获取的信息来确定信号分析参数值(SPW)。还描述了一种用于自动设定x射线检测器(16)的信号分析参数的方法(500)。还描述了一种用于确定用于x射线检测器(16)的信号分析参数(SP)的调整性设定的设施(40)。还描述了一种x射线系统(1)。

主权项

一种用于自动确定用于x射线检测器(16)的信号分析参数(SP)的调整性设定的方法(400)，具有下列步骤：‑获取与下列检查参数组中的至少一组有关的信息：‑待检查对象(O)的尺寸(ABD)，‑在所述待检查对象(O)中的x射线衰减(RSD)，‑所述待检查对象(O)的检查性质(UAD)，‑所述待检查对象(O)的检查区域(UBD)，‑基于所获取的信息来自动确定信号分析参数值(SPW)。