发明名称 |
对接耦合的埋设波导光电探测器 |
摘要 |
本发明涉及对接耦合的埋设波导光电探测器。一种形成具有光电探测器和CMOS设备的集成光子半导体结构的方法,其可以包括:在第一绝缘体上硅区上形成CMOS设备;在第二绝缘体上硅区上形成硅光波导;以及形成围绕硅光波导的浅槽隔离(STI)区,从而使得所述浅槽隔离将第一和第二绝缘体上硅区电隔离。在STI区内,邻近半导体光波导的端面沉积锗材料。所述锗材料形成一个活性区,其接收来自半导体光波导的端面的传播光学信号。 |
申请公布号 |
CN104124304B |
申请公布日期 |
2016.08.31 |
申请号 |
CN201410163915.4 |
申请日期 |
2014.04.23 |
申请人 |
国际商业机器公司 |
发明人 |
S·阿瑟法;W·M·格林;S·M·尚克;Y·A·维拉索 |
分类号 |
H01L31/18(2006.01)I;H01L27/144(2006.01)I;H01L31/028(2006.01)I |
主分类号 |
H01L31/18(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
冯玉清 |
主权项 |
一种形成具有光电探测器设备和CMOS设备的集成光子半导体结构的方法,其包括:形成用于CMOS设备的阱区;形成用于把光电探测器设备与阱区电隔离的隔离区,所述隔离区从所述光电探测器设备的上表面延伸到下层的氧化层,其中所述隔离区与所述下层的氧化层直接物理接触;形成用于传播光学信号的半导体光波导;以及在隔离区内邻近半导体光波导的端面沉积锗材料,其中,所沉积的锗材料形成光电探测器设备的活性区,以用于接收来自半导体光波导结构的端面的传播光学信号。 |
地址 |
美国纽约 |