发明名称 对接耦合的埋设波导光电探测器
摘要 本发明涉及对接耦合的埋设波导光电探测器。一种形成具有光电探测器和CMOS设备的集成光子半导体结构的方法,其可以包括:在第一绝缘体上硅区上形成CMOS设备;在第二绝缘体上硅区上形成硅光波导;以及形成围绕硅光波导的浅槽隔离(STI)区,从而使得所述浅槽隔离将第一和第二绝缘体上硅区电隔离。在STI区内,邻近半导体光波导的端面沉积锗材料。所述锗材料形成一个活性区,其接收来自半导体光波导的端面的传播光学信号。
申请公布号 CN104124304B 申请公布日期 2016.08.31
申请号 CN201410163915.4 申请日期 2014.04.23
申请人 国际商业机器公司 发明人 S·阿瑟法;W·M·格林;S·M·尚克;Y·A·维拉索
分类号 H01L31/18(2006.01)I;H01L27/144(2006.01)I;H01L31/028(2006.01)I 主分类号 H01L31/18(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 冯玉清
主权项 一种形成具有光电探测器设备和CMOS设备的集成光子半导体结构的方法,其包括:形成用于CMOS设备的阱区;形成用于把光电探测器设备与阱区电隔离的隔离区,所述隔离区从所述光电探测器设备的上表面延伸到下层的氧化层,其中所述隔离区与所述下层的氧化层直接物理接触;形成用于传播光学信号的半导体光波导;以及在隔离区内邻近半导体光波导的端面沉积锗材料,其中,所沉积的锗材料形成光电探测器设备的活性区,以用于接收来自半导体光波导结构的端面的传播光学信号。
地址 美国纽约