| 发明名称 | 重复数据删除性能测试方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明实施例提供一种重复数据删除性能测试方法和装置，一种重复数据删除性能测试方法包括：按指定分布选取存储样本数据的内存空间中m个连续内存块中的数据，每一内存块的大小为a；根据所述样本数据的修改记录比特图，将所述m个连续的内存块中的数据分别加上各自内存块的修改次数；将所述m个连续的内存块中的m/k个内存块中的数据加1，生成待发送的数据，并在所述样本数据的修改记录比特图中所述m/k个内存块对应的位置加1，k为重删率；将所述待发送的数据发送至待测试存储系统；统计所述待发送的数据的发送速率，以得到对所述待测试存储系统的重复数据删除性能进行测试结果。 | ||
| 申请公布号 | CN103744783B | 申请公布日期 | 2016.08.31 |
| 申请号 | CN201410002975.8 | 申请日期 | 2014.01.03 |
| 申请人 | 华为技术有限公司 | 发明人 | 许德智;于传帅;张程伟 |
| 分类号 | G06F11/36(2006.01)I;G06F12/02(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/36(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人 | 刘芳 |
| 主权项 | 一种重复数据删除性能测试方法，其特征在于，包括：按指定分布选取存储样本数据的内存空间中m个连续内存块中的数据，每一内存块的大小为a；根据所述样本数据的修改记录比特图，将所述m个连续的内存块中的数据分别加上各自内存块的修改次数；将所述m个连续的内存块中的m/k个内存块中的数据加1，生成待发送的数据，并在所述样本数据的修改记录比特图中所述m/k个内存块对应的位置加1，k为重删率；将所述待发送的数据发送至待测试存储系统；统计所述待发送的数据的发送速率，以得到所述待测试存储系统的重复数据删除性能测试结果。 | ||
| 地址 | 518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 | ||