| 发明名称 | 一种测试体及测试工装 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种测试体及测试工装。所述测试体包括：线分辨力及穿透分辨力检测卡；所述线分辨力及穿透分辨力检测卡包括：第一检测卡底板、第一金属阶梯、非金属板和多块正弦波插条；所述多块正弦波插条的金属丝导体采用不同预设直径的金属丝制成，所述非金属板的一端设置在所述第一检测卡底板和所述第一金属阶梯之间，所述非金属板的另一端设置有缺口，所述多块正弦波插条随机并行排布插入所述缺口中。该测试体能够有效增强对成像图像真伪的分辨力。 | ||
| 申请公布号 | CN205538747U | 申请公布日期 | 2016.08.31 |
| 申请号 | CN201620069853.5 | 申请日期 | 2016.01.25 |
| 申请人 | 公安部第一研究所;北京中盾安全技术开发公司 | 发明人 | 陶磊;张文弘;刘琳;芦朋;赵磊;滕旭;王磊;谢峰;韩井玉;孙晓冬;严瑾;靳树娟;刘芷伊 |
| 分类号 | G01N23/04(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京尚伦律师事务所 11477 | 代理人 | 张俊国 |
| 主权项 | 一种测试体，其特征在于，包括：线分辨力及穿透分辨力检测卡；所述线分辨力及穿透分辨力检测卡包括：第一检测卡底板、第一金属阶梯、非金属板和多块正弦波插条；所述多块正弦波插条的金属丝导体采用不同预设直径的金属丝制成，所述非金属板的一端设置在所述第一检测卡底板和所述第一金属阶梯之间，所述非金属板的另一端设置有缺口，所述多块正弦波插条随机并行排布插入所述缺口中。 | ||
| 地址 | 100048 北京市海淀区首都体育馆南路1号 | ||