发明名称 基于多光束干涉效应的宽波段介电参数获取方法
摘要 本发明涉及宽波段范围材料介电参数获取领域,为提供可用于从微波、太赫兹到红外波段的介电参数获取的新方法。本发明采用的技术方案是,基于多光束干涉效应的宽波段介电参数获取方法,包含数据采集和数据处理两个过程,数据采集包括背景数据及放入样品后的信号数据采集,利用傅里叶光谱仪进行测量获取干涉图,干涉图的横坐标为光谱仪干涉臂动镜的位置,纵坐标为探测器对干涉信号的响应电压;数据处理包含了对原始数据的初步处理和光学参数的反演计算两部分;光学参数的反演计算细分为干涉级次求解、实折射率计算、消光系数计算、吸收系数计算、介电参数计算;最终获得介电参数。本发明主要应用于宽波段范围材料介电参数获取场合。
申请公布号 CN105911015A 申请公布日期 2016.08.31
申请号 CN201610229190.3 申请日期 2016.04.12
申请人 天津大学 发明人 钟凯;王茂榕;郭拾贝;刘楚;徐德刚;王与烨;姚建铨
分类号 G01N21/3581(2014.01)I;G01N21/3586(2014.01)I;G01N22/00(2006.01)I 主分类号 G01N21/3581(2014.01)I
代理机构 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人 刘国威
主权项 一种基于多光束干涉效应的宽波段介电参数获取方法,其特征是,包含数据采集和数据处理两个过程,数据采集包括背景数据及放入样品后的信号数据采集,利用傅里叶光谱仪进行测量获取干涉图,干涉图的横坐标为光谱仪干涉臂动镜的位置,纵坐标为探测器对干涉信号的响应电压;数据处理包含了对原始数据的初步处理和光学参数的反演计算两部分,原始数据的初步处理细分为时域干涉图转换、获取频域频谱图、获取透过率谱步骤;光学参数的反演计算细分为干涉级次求解、实折射率计算、消光系数计算、吸收系数计算、介电参数计算;最终获得介电参数。
地址 300072 天津市南开区卫津路92号