发明名称 一种光纤色散系数测量装置
摘要 本实用新型属于光纤参数测量领域,具体涉及一种光纤色散系数测量装置,包括波长可调DFB窄线宽激光器,电光调制器,待测光纤,高速光电探测器,矢量网络分析仪和直流电源;所述波长可调DFB窄线宽激光器、电光调制器、高速光电探测器构成一条微波光子链路;波长可调DFB窄线宽激光器发出的单色偏振光入射到电光调制器;矢量网络分析仪的第一端口输出一扫频的射频信号进入电光调制器;电光调制器将该射频信号加载到光波上而输出一光载射频信号,该光载射频信号经过待测光纤后入射到高速光电探测器上,高速光电探测器将光信号转换成射频信号并接入到矢量网络分析仪进行采集和分析;相比现有的光学测量方法,该方法具备测量速度快,测量精度高,并且不受环境因素的影响等优点。
申请公布号 CN205538163U 申请公布日期 2016.08.31
申请号 CN201620295535.0 申请日期 2016.04.08
申请人 中国电子科技集团公司第三十八研究所 发明人 陈信伟;吴彭生;李琳;武帅
分类号 G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 代理人 张景云
主权项 一种光纤色散系数测量装置,其特征在于:包括波长可调DFB窄线宽激光器(101),电光调制器(102),待测光纤(103),高速光电探测器(104),矢量网络分析仪(105)和直流电源(106);所述波长可调DFB窄线宽激光器(101)、电光调制器(102)、高速光电探测器(104)构成一条微波光子链路;波长可调DFB窄线宽激光器(101)发出的单色偏振光入射到电光调制器(102);矢量网络分析仪(105)的第一端口(1)输出一扫频的射频信号进入电光调制器(102);电光调制器(102)将该射频信号加载到光波上而输出一光载射频信号,该光载射频信号经过待测光纤(103)后入射到高速光电探测器(104)上,高速光电探测器(104)将光信号转换成射频信号并接入到矢量网络分析仪(105)进行采集和分析。
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