一种适用芯片堆叠装配测试的插座

摘要

本实用新型涉及一种适用芯片堆叠装配测试插座，包括主板，所述主板上设置有下测试插座，所述下测试插座上堆叠有与其配合的上测试插座，所述下测试插座和上测试插座在同一轴线布置。本实用新型体积减少，同时还具有较高的性能，并且还具有多样的测试能效能针对不同的芯片进行测试，且具备良好的散热性。

主权项

一种适用芯片堆叠装配测试的插座，其特征在于：包括主板(1)，所述主板(1)上设置有下测试插座(2)，所述下测试插座(2)上堆叠有与其配合的上测试插座(3)，所述下测试插座(2)和上测试插座(3)在同一轴线布置；所述下测试插座(2)由下测试插座主体(21)、下测试插座保持板(22)及下测试插座托板(23)构成，且从上到下布置，所述下测试插座保持板(22)的中央处凸设有放置槽，所述放置槽上装嵌有逻辑芯片(25)，所述下测试插座主体(21)的中央处开设有匹配于放置槽的通孔，且开设有通孔的下测试插座主体(21)套装在凸设有放置槽的下测试插座保持板(22)上，所述下测试插座托板(23)设置在下测试插座保持板(22)的下端上，且下测试插座托板(23)正对放置槽布置，下测试探针(24)穿接于下测试插座托板(23)和下测试插座保持板(22)上，其下测试探针的一端穿过放置槽与逻辑芯片(25)相连，另一端穿过下测试插座托板(23)与主板(1)相连；所述上测试插座(3)由上测试插座不锈钢定位块(31)、上测试插座保持板(32)及上测试插座托板(33)构成，所述上测试插座不锈钢定位块(31)的中央处开设有一穿孔，所述上测试插座保持板(32)固设在上测试插座不锈钢定位块(31)的底端上，所述上测试插座保持板(32)上设有一芯片放置槽，芯片放置槽正对穿孔布置，记忆芯片(38)、压块(36)穿过穿孔设置在所述芯片放置槽上，所述压块(36)压设在记忆芯片(38)上，所述上测试插座托板(33)固设在上测试插座保持板(32)的底端上，上测试探针(34)穿接在所述上测试插座保持板(32)及上测试插座托板(33)上，上测试探针(34)的一端与记忆芯片(38)相连，另一端与逻辑芯片(25)相连。