发明名称 |
三表面干涉式高精度曲面轮廓测量系统及方法 |
摘要 |
本发明公开了一种三表面干涉式高精度曲面轮廓测量系统及方法。这是一种利用迈克尔逊干涉原理,获取被测零件表面三维轮廓信息的测量系统。首先用计算机控制半导体激光器进行波数扫描,与此同时CCD相机连续拍摄不同波数下的干涉图像。通过光路中光楔前后表面的干涉图像进行波数在线监测。然后将干涉图像每个像素沿时间轴傅立叶变换,在被测零件曲面轮廓和光楔前表面干涉信号峰值处,提取卷绕相位信息。解卷绕后,得到被测零件表面三维轮廓。本发明的曲面三维轮廓测量精度为±10nm,稳定可靠,不需经常实时效验,不需参考曲面,同时保持很高的测量精度。 |
申请公布号 |
CN105890538A |
申请公布日期 |
2016.08.24 |
申请号 |
CN201410856974.X |
申请日期 |
2014.12.30 |
申请人 |
广东工业大学 |
发明人 |
周延周;谢创亮;刘运红 |
分类号 |
G01B11/24(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/24(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种三表面干涉式高精度曲面轮廓测量系统,包括激光控制器(1)、半导体激光器(2)、准直透镜(3)、分光镜(4)、偏振片(5)、被测零件(6)、光楔(7)、CCD相机(8)、计算机(9)。 |
地址 |
510006 广东省广州市番禺区广州大学城广东工业大学 |