发明名称 三表面干涉式高精度曲面轮廓测量系统及方法
摘要 本发明公开了一种三表面干涉式高精度曲面轮廓测量系统及方法。这是一种利用迈克尔逊干涉原理,获取被测零件表面三维轮廓信息的测量系统。首先用计算机控制半导体激光器进行波数扫描,与此同时CCD相机连续拍摄不同波数下的干涉图像。通过光路中光楔前后表面的干涉图像进行波数在线监测。然后将干涉图像每个像素沿时间轴傅立叶变换,在被测零件曲面轮廓和光楔前表面干涉信号峰值处,提取卷绕相位信息。解卷绕后,得到被测零件表面三维轮廓。本发明的曲面三维轮廓测量精度为±10nm,稳定可靠,不需经常实时效验,不需参考曲面,同时保持很高的测量精度。
申请公布号 CN105890538A 申请公布日期 2016.08.24
申请号 CN201410856974.X 申请日期 2014.12.30
申请人 广东工业大学 发明人 周延周;谢创亮;刘运红
分类号 G01B11/24(2006.01)I 主分类号 G01B11/24(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种三表面干涉式高精度曲面轮廓测量系统,包括激光控制器(1)、半导体激光器(2)、准直透镜(3)、分光镜(4)、偏振片(5)、被测零件(6)、光楔(7)、CCD相机(8)、计算机(9)。
地址 510006 广东省广州市番禺区广州大学城广东工业大学