一种PI环化率的检测方法

摘要

本发明提供一种PI环化率的检测方法，包括如下步骤：提供一液晶显示面板，所述液晶显示面板包括阵列基板、彩膜基板及通过封框胶封装在两者之间的液晶，所述彩膜基板靠近所述液晶的一侧涂覆有PI层；将所述彩膜基板从阵列基板上分离，清除所述彩膜基板的PI层上残留的液晶；在所述PI层上形成溴化钾薄膜；通过红外光谱仪测量得到溴化钾薄膜下的PI层的C‑N‑C吸光度A和C＝C吸光度B，则PI环化率为：(A/(B×C))×100％，其中C为标准值。通过本发明可以测的液晶显示面板中PI的环化率，若PI环化率异常，则可以分析与PI层制作的相关制程，完善制作流程，进而提高液晶显示面板的生产良率。

主权项

一种PI环化率的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：提供一液晶显示面板，所述液晶显示面板包括阵列基板、彩膜基板及通过封框胶封装在两者之间的液晶，所述彩膜基板靠近所述液晶的一侧涂覆有PI层；将所述彩膜基板从阵列基板上分离，清除所述彩膜基板的PI层上残留的液晶；在所述PI层上形成溴化钾薄膜；通过红外光谱仪测量得到溴化钾薄膜下的PI层的C‑N‑C吸光度A和C＝C吸光度B，则PI环化率为：(A/(B×C))×100％，其中C为标准值。