发明名称 |
包括光学部的微成像器分析系统及其使用方法 |
摘要 |
本发明的公开内容的方面包括用于测定样品以分析分析物的方法和系统。根据某些实施方案的方法包括使用狭缝形状的光的光束照亮样品,检测透射经过样品的光,确定在一个或多个波长的被透射的光的吸光度以及基于该吸光度计算分析物的浓度以测定样品以分析分析物。还描述了用于实践主题方法的系统。 |
申请公布号 |
CN105899936A |
申请公布日期 |
2016.08.24 |
申请号 |
CN201480062082.0 |
申请日期 |
2014.11.10 |
申请人 |
贝克顿·迪金森公司 |
发明人 |
斯科特·伯恩海默;爱德华·戈德堡 |
分类号 |
G01N21/25(2006.01)I;G01N21/59(2006.01)I;G01N35/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/25(2006.01)I |
代理机构 |
北京友联知识产权代理事务所(普通合伙) 11343 |
代理人 |
尚志峰;汪海屏 |
主权项 |
一种测定样品以分析分析物的方法,所述方法包括:使用光源经过狭缝投射模块照亮在样品室中的样品,以提供在所述样品室上的狭缝形状的光束;检测透射经过所述样品的光;以及在一个或多个波长计算检测到的光的吸光度,以测定所述样品以分析所述样品中的所述分析物。 |
地址 |
美国新泽西州 |