测量物质浓度的传感器装置

摘要

一种传感器装置，其用于在干扰物存在下测定开放式样品(130)中物质的浓度，所述传感器装置包括：第一光源(200)，其发射被所述物质吸收的第一波长下的脉冲光(S₁)，第二光源(210)，其发射透过所述物质的第二波长下的脉冲光(S₂)，光学装置(250、252、254、310、320、330、340)，其用于沿相同的光路将发射的所述第一波长和第二波长的脉冲光(S₁、S₂)的至少一部分引导通过开放式样品(130)，以及样品检测器(230)，其布置在所述光路的末端用于接收透过所述样品(130)的所发射的所述第一波长和第二波长的光(S₁、S₂)，其中所述干扰物作为沉积物形成在暴露于所述物质的所述光学装置(250、252、254、310、320、330、340)中的至少一个上，并且其中所述第一波长和第二波长被所述干扰物吸收。

主权项

一种用于在干扰物的存在下测定开放式样品(130)中过氧化氢的浓度的过氧化氢传感器装置，所述过氧化氢传感器装置包括：第一光源(200)，其发射被所述过氧化氢吸收的第一波长下的脉冲光(S₁)，第二光源(210)，其发射透过所述过氧化氢的第二波长下的脉冲光(S₂)，光学装置(250、252、254、310、320、330、340)，其用于沿相同的光路将所发射的所述第一波长和第二波长的脉冲光(S₁、S₂)的至少一部分引导通过所述开放式样品(130)，以及样品检测器(230)，其布置在所述光路的末端用于接收所发射的透过所述开放式样品(130)的所述第一波长和第二波长的脉冲光(S₁、S₂)，其中所述干扰物作为沉积物形成在暴露于所述过氧化氢的所述光学装置(250、252、254、310、320、330、340)中的至少一个上，并且其中在所述第一波长和第二波长下的脉冲光(S₁、S₂)被所述干扰物吸收，其中所述第一光源(200)、所述第二光源(210)、以及所述样品检测器(230)布置在所述开放式样品(130)的同一侧上。