| 发明名称 | 半导体发光元件用测定装置以及半导体发光元件用测定方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种可同时测定各角度的光的波长和发光量的半导体发光元件用测定装置。LED用测定装置(3)具有接收LED(101)半导体发光元件发射的光的光电探测器(105)、可改变LED(101)与光电探测器(105)之间的距离的距离变更机构、以及可测定LED(101)所发射的光之中的一方向的光的波长或强度的测定部(120)，其中，即使通过距离变更机构而改变LED(101)与光电探测器(105)之间的距离，测定部(120)也会接收光电探测器(105)所接收的光的最外周线的光。 | ||
| 申请公布号 | CN104094091B | 申请公布日期 | 2016.08.24 |
| 申请号 | CN201280068969.1 | 申请日期 | 2012.03.27 |
| 申请人 | 日本先锋公司;先锋自动化设备股份有限公司 | 发明人 | 望月学;藤森昭一 |
| 分类号 | G01J1/00(2006.01)I;G01J3/00(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I;H01L33/00(2006.01)I | 主分类号 | G01J1/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人 | 李辉;黄纶伟 |
| 主权项 | 一种半导体发光元件用测定装置，其具有：受光部，其具有接收半导体发光元件发射的光的受光面；以及测定部，其具有让所述半导体发光元件发射的光射入的入射面，并且能够测定所述半导体发光元件发射的光之中一方向的光的波长或强度，其特征在于，所述半导体发光元件用测定装置还具有距离变更机构，该距离变更机构能够改变所述半导体发光元件与所述受光部之间的距离；所述测定部在移动至随着所述距离变更机构变更所述距离而通过所述半导体发光元件的发光中心的发光中心轴与连接所述半导体发光元件和所述受光面的外周端部的线所形成的角度、和所述发光中心轴与连接所述半导体发光元件和所述测定部的线所形成的角度相同的位置的状态下，进行测定。 | ||
| 地址 | 日本神奈川县 | ||