发明名称 |
一种提高反发射薄膜与钼栅网基底结合力的方法 |
摘要 |
一种提高反发射薄膜与钼栅网基底结合力的方法,包括以下步骤:A.将加工好的钼栅网进行真空除气,温度为800±20℃;B.采用离子束辅助沉积法在上述Mo栅网上沉积一层反发射薄膜;C.对所制成的栅网进行退火处理,退火温度为1000~1300℃。本发明利用离子束辅助沉积法在钼栅网基底上沉积反发射薄膜,通过离子束轰击基底表面,提高基底表面粗糙度,从而使得反发射薄膜与钼栅网基底结合力增加,再结合后续高温退火处理,使得反发射薄膜和钼基底间形成合金相,进一步提高了反发射薄膜与钼栅网基底结合力。 |
申请公布号 |
CN103898440B |
申请公布日期 |
2016.08.24 |
申请号 |
CN201210585107.8 |
申请日期 |
2012.12.28 |
申请人 |
北京有色金属研究总院 |
发明人 |
吕琴丽;李弢;杨明华;郜健 |
分类号 |
C23C14/02(2006.01)I;C23C14/16(2006.01)I;C23C14/34(2006.01)I;H01J9/14(2006.01)I |
主分类号 |
C23C14/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 |
代理人 |
刘茵 |
主权项 |
一种提高反发射薄膜与钼栅网基底结合力的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:A.将加工好的钼栅网进行真空除气,温度为800±20℃;B.采用离子束辅助沉积法在上述Mo栅网上沉积一层反发射薄膜;离子束辅助沉积过程中,Ar<sup>+</sup>离子束能量为800~1000eV,本底真空度优于1×10<sup>‑4</sup>Pa,工作气压为0.02~0.1Pa;反发射薄膜厚度为1.0±0.1um;C.对所制成的栅网进行退火处理,退火温度为1000~1300℃,退火时间为0.5~3小时,本底真空优于1×10<sup>‑4</sup>Pa。 |
地址 |
100088 北京市西城区新街口外大街2号 |