发明名称 一种提高反发射薄膜与钼栅网基底结合力的方法
摘要 一种提高反发射薄膜与钼栅网基底结合力的方法,包括以下步骤:A.将加工好的钼栅网进行真空除气,温度为800±20℃;B.采用离子束辅助沉积法在上述Mo栅网上沉积一层反发射薄膜;C.对所制成的栅网进行退火处理,退火温度为1000~1300℃。本发明利用离子束辅助沉积法在钼栅网基底上沉积反发射薄膜,通过离子束轰击基底表面,提高基底表面粗糙度,从而使得反发射薄膜与钼栅网基底结合力增加,再结合后续高温退火处理,使得反发射薄膜和钼基底间形成合金相,进一步提高了反发射薄膜与钼栅网基底结合力。
申请公布号 CN103898440B 申请公布日期 2016.08.24
申请号 CN201210585107.8 申请日期 2012.12.28
申请人 北京有色金属研究总院 发明人 吕琴丽;李弢;杨明华;郜健
分类号 C23C14/02(2006.01)I;C23C14/16(2006.01)I;C23C14/34(2006.01)I;H01J9/14(2006.01)I 主分类号 C23C14/02(2006.01)I
代理机构 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人 刘茵
主权项 一种提高反发射薄膜与钼栅网基底结合力的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:A.将加工好的钼栅网进行真空除气,温度为800±20℃;B.采用离子束辅助沉积法在上述Mo栅网上沉积一层反发射薄膜;离子束辅助沉积过程中,Ar<sup>+</sup>离子束能量为800~1000eV,本底真空度优于1×10<sup>‑4</sup>Pa,工作气压为0.02~0.1Pa;反发射薄膜厚度为1.0±0.1um;C.对所制成的栅网进行退火处理,退火温度为1000~1300℃,退火时间为0.5~3小时,本底真空优于1×10<sup>‑4</sup>Pa。
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