发明名称 |
一种分数延时滤波器延时性能测试方法及其测试装置 |
摘要 |
本发明公开了一种分数延时滤波器延时性能测试方法及其测试装置。该方法包括:提供相互之间存在一个延时精度值的两路测试信号;将两路测试信号分别送入延时值分别设置为零和延迟精度值的两个待测试分数延时滤波器中,并由此形成两路输出信号;比较两路输出信号:将两路输出信号相减,根据差值情况来判断评估该待测试分数延时滤波器的延时性能,或用将两路输出信号采用相关函数方法来评估;改变延时值为该延时精度值的整数倍数或改变两路测试信号的频率值,再重复以上步骤。本发明还公开应用该方法的分数延时滤波器延时性能测试装置、另一种分数延时滤波器延时性能测试方法及应用这另一种方法的分数延时滤波器延时性能测试装置。 |
申请公布号 |
CN105891701A |
申请公布日期 |
2016.08.24 |
申请号 |
CN201610422151.5 |
申请日期 |
2016.06.08 |
申请人 |
中国电子科技集团公司第三十八研究所 |
发明人 |
朱亮;张卫清;朱文松;胡晓芳 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 |
代理人 |
方荣肖 |
主权项 |
一种分数延时滤波器延时性能测试方法,其特征在于:其包括以下步骤:第一步,提供两路测试信号:测试信号一、测试信号二,该测试信号一因与该测试信号二频率相同而初相不同故存在一个延时精度值;第二步,将该测试信号一送入待测试分数延时滤波器中,并由此形成输出信号一,其中,此时该待测试分数延时滤波器的延时值设置为零;第三步,将该测试信号二送入该待测试分数延时滤波器中,并由此形成输出信号二,其中,此时该待测试分数延时滤波器的延时值设置为该延时精度值;第四步,比较该输出信号一与该输出信号二:将两路输出信号相减,根据差值情况来判断评估该待测试分数延时滤波器的延时性能,或用将两路输出信号采用相关函数方法来评估;第五步,改变该待测试分数延时滤波器的延时值为该延时精度值的整数倍数,重复第二步至第四步,评估同一测试信号频率不同延时情况下该待测试分数延时滤波器的延时性能;第六步,改变两路测试信号的频率值,使其频率值从零频覆盖到该待测试分数延时滤波器的最大通带值,重复第一步至第五步,评估不同测试信号频率不同延时情况下该待测试分数延时滤波器的延时性能。 |
地址 |
230000 安徽省合肥市高新技术开发区香樟大道199号 |