发明名称 |
一种颗粒粒度检测装置及检测方法 |
摘要 |
本发明提供一种颗粒粒度检测装置及检测方法,涉及测试技术领域。它包括:光源、调制单元、样品池、分光棱镜、筛选转换单元和计算单元;筛选转换单元分别筛选出平行和垂直于散射面的散射光分量,并转换成光能量数据,进行反演计算求解颗粒粒径分布信息。本发明解决了现有技术中颗粒粒度检测装置结构复杂、操作不方便、使用成本高的技术问题。本发明有益效果为:根据两个散射光分量的比值进行颗粒粒度反演,这样有效地降低了光路中空气和杂散颗粒的影响,提高了颗粒粒度测量可靠性。结构简单合理,制造成本低。操作简单,携带方便,适应在线检测。 |
申请公布号 |
CN105891066A |
申请公布日期 |
2016.08.24 |
申请号 |
CN201610224899.4 |
申请日期 |
2016.04.11 |
申请人 |
中国计量学院 |
发明人 |
孔明;沈海栋;赵军;郭天太;王道档;刘维;单良;杨瑶;叶婷;贾茜媛;沈永 |
分类号 |
G01N15/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01N15/02(2006.01)I |
代理机构 |
杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 |
代理人 |
尉伟敏 |
主权项 |
一种颗粒粒度检测装置,它包括:光源(1),产生单色激光束;调制单元(2),将光源(1)射入的激光束调制成平行、光强均匀的激光束;样品池(3),容纳待测颗粒溶液,激光束与待测颗粒相互作用产生散射光;分光棱镜(4),将散射光分成能量相同的两束光;筛选转换单元(5),分别筛选出平行和垂直于散射面的散射光分量,并转换成电信号;计算单元(6),将采集的电信号转换成光能量数据,用反演计算求解颗粒粒径分布信息。 |
地址 |
310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号 |