发明名称 一种颗粒粒度检测装置及检测方法
摘要 本发明提供一种颗粒粒度检测装置及检测方法,涉及测试技术领域。它包括:光源、调制单元、样品池、分光棱镜、筛选转换单元和计算单元;筛选转换单元分别筛选出平行和垂直于散射面的散射光分量,并转换成光能量数据,进行反演计算求解颗粒粒径分布信息。本发明解决了现有技术中颗粒粒度检测装置结构复杂、操作不方便、使用成本高的技术问题。本发明有益效果为:根据两个散射光分量的比值进行颗粒粒度反演,这样有效地降低了光路中空气和杂散颗粒的影响,提高了颗粒粒度测量可靠性。结构简单合理,制造成本低。操作简单,携带方便,适应在线检测。
申请公布号 CN105891066A 申请公布日期 2016.08.24
申请号 CN201610224899.4 申请日期 2016.04.11
申请人 中国计量学院 发明人 孔明;沈海栋;赵军;郭天太;王道档;刘维;单良;杨瑶;叶婷;贾茜媛;沈永
分类号 G01N15/02(2006.01)I 主分类号 G01N15/02(2006.01)I
代理机构 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 代理人 尉伟敏
主权项 一种颗粒粒度检测装置,它包括:光源(1),产生单色激光束;调制单元(2),将光源(1)射入的激光束调制成平行、光强均匀的激光束;样品池(3),容纳待测颗粒溶液,激光束与待测颗粒相互作用产生散射光;分光棱镜(4),将散射光分成能量相同的两束光;筛选转换单元(5),分别筛选出平行和垂直于散射面的散射光分量,并转换成电信号;计算单元(6),将采集的电信号转换成光能量数据,用反演计算求解颗粒粒径分布信息。
地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号