发明名称 0.3到2微米范围内长余辉发光强度的测试装置及方法
摘要 本发明公开了一种0.3到2微米范围内长余辉发光强度的测试装置,包括积分球、第一透镜、光栅、滤波片、聚焦透镜、功率计探头、光功率计;长余辉材料测试样品置于积分球内;所述功率计探头在0.3到2微米范围内的吸收率相同;激发光从积分球的入射口入射,焦点位于长余辉材料测试样品上;关闭激发光电源后,长余辉材料测试样品产生的发射光依次经第一透镜变为平行光,再经光栅选光、滤波片滤波、聚焦透镜聚焦后由功率计探头接收,测试结果在光功率计上显示。本发明还公开了基于上述测试装置的测试方法。本发明通过测量光功率的方式来读取相应数据,从而可以比较可见到红外区的长余辉发光强度。
申请公布号 CN105891163A 申请公布日期 2016.08.24
申请号 CN201610203140.8 申请日期 2016.03.31
申请人 华南理工大学 发明人 邱建荣;李杨;许琦;聂建敏
分类号 G01N21/63(2006.01)I;G01J1/16(2006.01)I 主分类号 G01N21/63(2006.01)I
代理机构 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人 陈文姬
主权项 0.3到2微米范围内长余辉发光强度的测试装置,其特征在于,包括积分球、第一透镜、光栅、滤波片、聚焦透镜、功率计探头和光功率计;长余辉材料测试样品置于积分球内;所述功率计探头在0.3到2微米范围内的吸收率相同;激发光从积分球的入射口入射,焦点位于长余辉材料测试样品上;关闭激发光电源后,长余辉材料测试样品产生的发射光经第一透镜变为平行光,再经光栅选光、滤波片滤波、聚焦透镜聚焦后由功率计探头接收,测试结果在光功率计上显示。
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