| 发明名称 | 基于NMR的含水量测量中适应性改变脉冲间隔的方法及设备 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于确定样品(1)的水分含量的NMR方法，在该方法中：使样品(1)作为DC磁场的对象；使DC磁场下的所述样品(1)作为具有脉冲间隔(T3)的处于RF频率的激励脉冲(3)序列(2)的对象，以激励氢原子核；以及测量受激氢原子核的NMR信号。根据本发明，估算所述样品(1)的自旋‐晶格弛豫时间(T1)，并且将脉冲间隔(T3)调整为大于所估算得到的自旋‐晶格弛豫时间(T1)。 | ||
| 申请公布号 | CN103250067B | 申请公布日期 | 2016.08.24 |
| 申请号 | CN201180052644.X | 申请日期 | 2011.08.30 |
| 申请人 | 美卓自动化有限公司 | 发明人 | 韦利-佩卡·维塔宁;S·维尔塔伦 |
| 分类号 | G01N24/08(2006.01)I | 主分类号 | G01N24/08(2006.01)I |
| 代理机构 | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人 | 张浴月;陈昌柏 |
| 主权项 | 一种用于确定样品(1)的水分含量的NMR方法，在该方法中，‑使样品(1)作为DC磁场的对象，‑使DC磁场下的所述样品(1)作为具有脉冲间隔T3的处于RF频率的激励脉冲(3)序列(2)的对象，以激励氢原子核，以及‑测量受激氢原子核的NMR信号，其特征在于：‑基于对所述激励脉冲(3)的序列的响应来估算每个样品(1)的自旋‑晶格弛豫时间T1，并且‑将所述脉冲间隔T3调整处于其最小值并将所述脉冲间隔T3保持为大于估算得到的自旋‑晶格弛豫时间T1；‑其中，所述自旋‑晶格弛豫时间T1是由自旋‑自旋弛豫时间T2估算得到，并且所述自旋‑自旋弛豫时间T2是直接或间接地确定得到。 | ||
| 地址 | 芬兰万塔 | ||