| 发明名称 | 一种脚跟试块 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种脚跟试块，包括半圆柱体（1）、第一平板（2）和第二平板（3），半圆柱体（1）的侧面包括圆弧形面和第一平面，第一平面一侧设置有第一平板（2）和第二平板（3），第一平板（2）的各部分厚度均相同，第二平板（3）的各部分厚度均相同，第一平板（2）和第二平板（3）均与第一平面平行设置，第一平板（2）和第二平板（3）分别设置在半圆柱体（1）的母线两侧，第一平板（2）的厚度小于第二平板（3）的厚度。本发明的脚试块结构简单，可以对周向斜探测曲面锻件角度、声速及零点进行标定，利用本发明的脚跟对比试块标定的仪器比例，满足了仪器准确校准目的，更有利于曲面锻件的超声波缺陷定位探伤。 | ||
| 申请公布号 | CN103954695B | 申请公布日期 | 2016.08.24 |
| 申请号 | CN201410166754.4 | 申请日期 | 2014.04.23 |
| 申请人 | 南京迪威尔高端制造股份有限公司 | 发明人 | 张利;陈昌华 |
| 分类号 | G01N29/30(2006.01)I | 主分类号 | G01N29/30(2006.01)I |
| 代理机构 | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人 | 张学彪 |
| 主权项 | 一种脚跟试块，其特征在于，包括半圆柱体(1)、第一平板(2)和第二平板(3)，所述半圆柱体(1)的侧面包括圆弧形面和第一平面，所述第一平面一侧设置有所述第一平板(2)和第二平板(3)，所述第一平板(2)的各部分厚度均相同，所述第二平板(3)的各部分厚度均相同，所述第一平板(2)和第二平板(3)均与所述第一平面平行设置，所述第一平板(2)和第二平板(3)分别设置在所述半圆柱体(1)的轴线两侧，所述第一平板(2)的厚度小于所述第二平板(3)的厚度；所述第一平板(2)远离所述半圆柱体(1)的平面与所述半圆柱体(1)的平面的距离为所述第一平板(2)的厚度，所述第二平板(3)远离半圆柱体(1)的平面与所述半圆柱体(1)的平面的距离为所述第二平板(3)的厚度。 | ||
| 地址 | 210048 江苏省南京市沿江工业开发区中山科技园 | ||