一种集成电路低温测试方法

摘要

本发明提供了一种集成电路低温测试方法，集成电路低温测试装置包含集成电路测试系统测试板，测试板支架，密封罩、软管、并持续不断地充进压缩空气；首先把被测电路置于比指定温度低5度的低温箱中储存至少30分钟，再进行低温测试，测试必须在1分钟内完成；本发明低温测试简单、快速，成本低，效果明显，适合测试生产线应用。

主权项

一种集成电路低温测试方法其特征在于：集成电路低温测试装置包含集成电路测试系统测试板，测试板支架，密封罩；密封罩通过螺丝安装在测试板下面中间位置，罩内安装喷气软胶管，软胶管一头安装喷气阀放置在密封罩内中间位置，软胶管的外边一头接到压缩空气管上。