发明名称 电路板测试治具及电路板测试系统
摘要 本实用新型涉及一种电路板测试治具及电路板测试系统。电路板测试治具包括治具底箱、升降组件、产品载板、探针组件及主控模块。升降组件用于向下按压产品载板。产品载板位于探针组件的上方并与探针组件弹性连接,且产品载板用于放置待测电路板并设有与待测电路板中测试点对应的若干第一探针孔。探针组件包括探针。探针的第一端与主控模块电连接,探针的第二端用于在产品载板被压下后穿过第一探针孔以接触测试点。主控模块用于通过探针接收并处理待测电路板的测试数据。该电路板测试治具及电路板测试系统能够实现机械化检测电路板的质量,克服了传统检测方法利用人眼来检测螺母线圈电路板质量的问题。
申请公布号 CN205507024U 申请公布日期 2016.08.24
申请号 CN201620233200.6 申请日期 2016.03.24
申请人 深圳市科美集成电路有限公司 发明人 张立国
分类号 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 何平
主权项 一种电路板测试治具,其特征在于,包括治具底箱、升降组件、产品载板、探针组件及主控模块;其中,所述升降组件安装于治具底箱上方并与治具底箱连接,所述产品载板、探针组件及主控模块安装于治具底箱;所述升降组件用于向下按压产品载板;所述产品载板位于探针组件的上方并与探针组件弹性连接,且所述产品载板用于放置待测电路板并设有与待测电路板中测试点对应的若干第一探针孔;所述探针组件包括探针;所述探针的第一端与主控模块电连接,所述探针的第二端用于在所述产品载板被压下后穿过第一探针孔以接触所述测试点;所述主控模块用于通过探针接收并处理待测电路板的测试数据。
地址 518000 广东省深圳市福田区石厦北三街东南方国际广场A栋618、619