| 发明名称 | 一种测量电容值的方法和设备 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种测量电容值的方法和设备。该方法包括：接收原始信号；使用电阻(R)和采样电容(C)组成的调制模块对所述原始信号的相位进行调制，得到目标信号，其中，所述采样电容(C)的一端与所述电阻(R)相连，另一端接地；比较所述原始信号和所述目标信号的相位，得到所述原始信号和目标信号的相位差；根据所述相位差计算所述采样电容(C)的值。利用该技术方案可以精确地测量电容值。 | ||
| 申请公布号 | CN103376366B | 申请公布日期 | 2016.08.24 |
| 申请号 | CN201210111234.4 | 申请日期 | 2012.04.16 |
| 申请人 | 西门子公司 | 发明人 | 付俊华;卓越;王青岗;王倩;赵明 |
| 分类号 | G01R27/26(2006.01)I | 主分类号 | G01R27/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 李慧 |
| 主权项 | 一种测量电容值的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：接收原始信号(401)；使用电阻(R)和采样电容(C)组成的调制模块对所述原始信号的相位进行调制，得到目标信号，其中，所述采样电容(C)的一端与所述电阻(R)相连，另一端接地(402)，以及其中所述采样电容(C)的与所述电阻(R)相连的一端为一电容性旋转编码器的静止极，所述接地的一端为所述电容性旋转编码器的旋转极；比较所述原始信号和所述目标信号的相位，得到所述原始信号和目标信号的相位差(403)；根据所述相位差，利用<img file="FDA0000977713620000011.GIF" wi="526" he="87" />计算所述采样电容(C)的值(404)，其中C为所述采样电容的值，R为电阻值，ω为所述原始信号的角速度，t为产生所述相位差所需的时延，f为所述原始信号的频率。 | ||
| 地址 | 德国慕尼黑 | ||