发明名称 一种X射线荧光探测装置
摘要 本发明涉及一种X射线荧光探测装置,其特征在于,所述装置包括支架,设置在支架上的X射线发生系统、X射线接收系统和平移转动系统,以及信息分析与控制系统。其中,所述X射线接收系统与X射线发生系统相对设置,用于接收经X射线发生系统发出的X射线照射后待测样品产生的X荧光;所述平移转动系统,包括平移机构和转动机构,所述平移机构带动所述X射线接收系统和/或所述X射线发生系统在水平方向平移;所述转动机构带动X射线接收系统沿垂直于水平方向的轴转动。本发明提供的X射线荧光探测装置,可以满足各种形态样品的测试并极大地提高了测试结果的准确度。
申请公布号 CN105891246A 申请公布日期 2016.08.24
申请号 CN201610465363.1 申请日期 2016.06.23
申请人 北京至一恒盛技术服务有限公司 发明人 丁娇娇;母海亮;王雅西
分类号 G01N23/223(2006.01)I 主分类号 G01N23/223(2006.01)I
代理机构 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人 李进
主权项 一种X射线荧光探测装置,其特征在于,所述装置包括支架,设置在支架上的X射线发生系统、X射线接收系统和平移转动系统,以及信息分析与控制系统,其中,所述X射线接收系统与X射线发生系统相对设置,用于接收经X射线发生系统发出的X射线照射后待测样品产生的X荧光;所述平移转动系统,包括平移机构和转动机构,所述平移机构带动所述X射线接收系统和/或所述X射线发生系统在水平方向平移;所述转动机构带动X射线接收系统沿垂直于水平方向的轴转动。
地址 100000 北京市朝阳区高碑店乡高碑店村民俗文化街1713号