发明名称 | 用于在熔融金属中进行取样的测量探针 | ||
摘要 | 本发明涉及一种用于在熔融金属中,尤其是在熔融钢中进行取样的测量探针,所述测量探针具有布置在支撑管的浸入端上的测量头,由此所述测量头包括至少一个样品室,由此所述样品室包括进料道,所述进料道的一端通向样品室,并且所述进料道的第二端包括从测量头的正面突出的进料口,所述测量头的正面背对支撑管,并且进料口被保护罩覆盖,其特征在于保护罩被布置在进料道的外面、沿进料方向处在进料口的上游并且离进料口一定距离处,由此保护罩覆盖了进料口,并且由此保护罩并没有在横向上完全地包围进料道。 | ||
申请公布号 | CN103630423B | 申请公布日期 | 2016.08.24 |
申请号 | CN201310310944.4 | 申请日期 | 2013.07.23 |
申请人 | 贺利氏电子耐特国际股份公司 | 发明人 | 德里·拜恩斯;埃里克·B·博特尔斯 |
分类号 | G01N1/10(2006.01)I | 主分类号 | G01N1/10(2006.01)I |
代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人 | 顾红霞;彭会 |
主权项 | 一种用于在熔融金属中进行取样的测量探针,所述测量探针具有布置在支撑管(27)的浸入端上的测量头(9),由此所述测量头(9)包括至少一个样品室(15),由此所述样品室(15)包括进料道(14),所述进料道(14)的一端通向所述样品室(15),并且所述进料道(14)的第二端包括从所述测量头(9)的正面突出的进料口(24),所述测量头(9)的正面背对所述支撑管(27),并且所述进料口(24)被保护帽(18)覆盖,其特征在于保护罩(19)被布置在所述进料道(14)的外面、沿进料方向处在所述进料口(24)的上游并且离所述进料口(24)一定距离处,由此所述保护罩(19)覆盖了所述进料口(24),并且由此所述保护罩(19)并没有在横向上完全地包围所述进料道(14)。 | ||
地址 | 比利时豪塔伦市 |