发明名称 用于在熔融金属中进行取样的测量探针
摘要 本发明涉及一种用于在熔融金属中,尤其是在熔融钢中进行取样的测量探针,所述测量探针具有布置在支撑管的浸入端上的测量头,由此所述测量头包括至少一个样品室,由此所述样品室包括进料道,所述进料道的一端通向样品室,并且所述进料道的第二端包括从测量头的正面突出的进料口,所述测量头的正面背对支撑管,并且进料口被保护罩覆盖,其特征在于保护罩被布置在进料道的外面、沿进料方向处在进料口的上游并且离进料口一定距离处,由此保护罩覆盖了进料口,并且由此保护罩并没有在横向上完全地包围进料道。
申请公布号 CN103630423B 申请公布日期 2016.08.24
申请号 CN201310310944.4 申请日期 2013.07.23
申请人 贺利氏电子耐特国际股份公司 发明人 德里·拜恩斯;埃里克·B·博特尔斯
分类号 G01N1/10(2006.01)I 主分类号 G01N1/10(2006.01)I
代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人 顾红霞;彭会
主权项 一种用于在熔融金属中进行取样的测量探针,所述测量探针具有布置在支撑管(27)的浸入端上的测量头(9),由此所述测量头(9)包括至少一个样品室(15),由此所述样品室(15)包括进料道(14),所述进料道(14)的一端通向所述样品室(15),并且所述进料道(14)的第二端包括从所述测量头(9)的正面突出的进料口(24),所述测量头(9)的正面背对所述支撑管(27),并且所述进料口(24)被保护帽(18)覆盖,其特征在于保护罩(19)被布置在所述进料道(14)的外面、沿进料方向处在所述进料口(24)的上游并且离所述进料口(24)一定距离处,由此所述保护罩(19)覆盖了所述进料口(24),并且由此所述保护罩(19)并没有在横向上完全地包围所述进料道(14)。
地址 比利时豪塔伦市