发明名称 |
基于矢量网络分析仪的二端口网络相移测试方法 |
摘要 |
本发明公开了一种基于矢量网络分析仪的二端口网络相移测试方法,本发明的方法基于矢量网络分析仪的测试值,结合基础的理论对测试数据进行处理,进而求得准确的相移值,完成了准确测试二端口网络插入相移θ<sub>I</sub>的测试任务;解决了矢量网络分析仪无法准确测试二端口网络插入相移的问题,简单易行,能够广泛应用于等效为二端口网络的微波元器件测试过程中。 |
申请公布号 |
CN104181392B |
申请公布日期 |
2016.08.24 |
申请号 |
CN201410386556.9 |
申请日期 |
2014.08.07 |
申请人 |
电子科技大学 |
发明人 |
胡江;苏鹏;延波;徐锐敏 |
分类号 |
G01R25/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R25/00(2006.01)I |
代理机构 |
成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 |
代理人 |
周永宏 |
主权项 |
一种基于矢量网络分析仪的二端口网络相移测试方法,具体为:在矢量网络分析仪的相移测试曲线上,找到两个相邻的零相位点M和N,对应的相移值分别设其位于为第n个2π的相移周期与第n+1个2π的相移周期,相应的频率为f<sub>n</sub>与f<sub>n+1</sub>,则有如下关系式:<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><mfrac><mi>n</mi><msub><mi>f</mi><mi>n</mi></msub></mfrac><mo>≈</mo><mfrac><mrow><mi>n</mi><mo>+</mo><mn>1</mn></mrow><msub><mi>f</mi><mrow><mi>n</mi><mo>+</mo><mn>1</mn></mrow></msub></mfrac></mrow>]]></math><img file="FDA0000994379510000011.GIF" wi="185" he="95" /></maths>其中,f<sub>n</sub>与f<sub>n+1</sub>由测试曲线读出,进而求得n值;对于频率位于两个相邻的零相位点M、N之间的点P的实际相移值θ<sub>I</sub>可根据以下公式求得:θ<sub>I</sub>=2nπ+θ<sub>I0</sub>其中,θ<sub>I0</sub>表示相移量,由矢量网络分析仪读出。 |
地址 |
611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号 |