发明名称 半导体结构及其制造方法
摘要 本发明公开了一种半导体结构及其制造方法。该半导体结构包括多个叠层结构以及多个接触结构,其中各叠层结构包括多个导电条与多个绝缘条,导电条与绝缘条交错设置(interlaced),各接触结构分别电性连接于各叠层结构;接触结构包括一第一导电柱(conductive pillar)、一介电材料层、一金属硅化物层及一第二导电柱;介电材料层环绕第一导电柱的侧面,金属硅化物层形成于第一导电柱的上表面上,第二导电柱形成于金属硅化物层上,该多个第一导电柱的上表面为同平面。
申请公布号 CN103887259B 申请公布日期 2016.08.17
申请号 CN201210566560.4 申请日期 2012.12.24
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 胡志玮;叶腾豪
分类号 H01L23/485(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I 主分类号 H01L23/485(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 任岩
主权项 一种半导体结构,包括:多个叠层结构,其中各该叠层结构包括多个导电条与多个绝缘条,该多个导电条与该多个绝缘条交错设置(interlaced);以及多个接触结构,各该接触结构分别电性连接于各该叠层结构,各该接触结构包括:一第一导电柱(conductive pillar);一介电材料层,环绕该第一导电柱的侧面;一金属硅化物层,形成于该第一导电柱的上表面上;及一第二导电柱,形成于该金属硅化物层上;其中,该多个第一导电柱的上表面为同平面。
地址 中国台湾新竹科学工业园区力行路16号