发明名称 深沟槽中感应材料的成膜方法
摘要 本发明公开了一种深沟槽中感应材料的成膜方法,包括步骤:1)在硅衬底上生长硬掩膜;2)在硬掩膜上涂布光刻胶,形成深沟槽光刻窗口;3)光刻刻蚀形成深沟槽;4)湿法刻蚀掉硬掩膜;5)淀积感应材料;6)旋涂光刻胶填充型材料2次,并在第2次旋涂完成后,静止10~20秒钟,再烘烤;7)涂布光刻胶,曝光并显影;8)刻蚀形成最终图案。本发明通过优化涂胶菜单,在涂胶的最后一步增加10~20s的静止时间,让光刻胶从深沟槽上方附近流入到深沟槽中,利用光刻胶的随型性特征,保护沟槽的侧壁和圆角部分,并保持和沟槽相近的图形,从而减少了一次涂胶步骤,在不影响器件性能的前提下降低了成本和后续刻蚀的时间。
申请公布号 CN104555894B 申请公布日期 2016.08.17
申请号 CN201310485983.8 申请日期 2013.10.17
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 孟鸿林
分类号 B81C1/00(2006.01)I 主分类号 B81C1/00(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 丁纪铁
主权项 深沟槽中感应材料的成膜方法,包括步骤:1)在硅衬底上生长硬掩膜;2)在硬掩膜上涂布光刻胶,并形成深沟槽光刻窗口;3)以光刻胶为掩膜,光刻刻蚀形成深沟槽;4)湿法刻蚀,去除硬掩膜;5)淀积一层感应材料;6)旋涂光刻胶填充型材料2次;7)涂布一层光刻胶,曝光并显影;8)刻蚀形成最终所需的图案;其特征在于,步骤6),第2次旋涂光刻胶填充型材料完成后,静止10~20秒钟,再进行烘烤。
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号