发明名称 |
InAs/GaSb超晶格红外光电探测器及其制备方法 |
摘要 |
本发明提供了一种InAs/GaSb超晶格红外光电探测器及其制备方法。该InAs/GaSb超晶格红外光电探测器包括:衬底;沉积于衬底上的外延结构,该外延结构包括:n型掺杂缓冲层、n型电极接触层、势垒层、本征吸收层、p型电极接触层和盖层,该外延结构的两侧经刻蚀形成台阶;金属上电极,形成于台阶的上方;金属下电极,形成于台阶的下方;以及钝化层;其中,本征吸收层由若干个周期的InAs/InSb/GaSb/InSb超晶格结构构成。本发明中,本征吸收层每个超晶格周期的两个界面中均插入InSb,形成应变超晶格,有效的平衡了超晶格与衬底之间的应力,提高了材料的生长质量,从而提高探测器的光电性能。 |
申请公布号 |
CN103887360B |
申请公布日期 |
2016.08.17 |
申请号 |
CN201410153659.0 |
申请日期 |
2014.04.16 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
蒋洞微;向伟;王娟;邢军亮;王国伟;徐应强;任正伟;贺振宏;牛智川 |
分类号 |
H01L31/102(2006.01)I;H01L31/036(2006.01)I;H01L31/0352(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I |
主分类号 |
H01L31/102(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
曹玲柱 |
主权项 |
一种InAs/GaSb超晶格红外光电探测器,其特征在于,包括:衬底(1);沉积于所述衬底(1)上的外延结构,该外延结构包括:n型掺杂缓冲层(2)、n型电极接触层(3)、势垒层(4)、本征吸收层(5)、p型电极接触层(6)和盖层(7),该外延结构的两侧经刻蚀形成台阶,台阶的深度至所述n型电极接触层(3);金属上电极(8)和金属下电极(9),其中,所述金属上电极(8)形成于所述台阶的上方,与所述盖层(7)欧姆接触,所述金属下电极(9)形成于所述台阶的下方,与所述n型电极接触层(3)欧姆接触;以及钝化层(10),形成于所述衬底(1)以及外延结构上除金属上电极(8)和金属下电极(9)之外的其他位置;其中,所述n型电极接触层(3)、势垒层(4)、本征吸收层(5)、p型电极接触层(6)均由超晶格结构构成,所述本征吸收层(5)由若干个周期的InAs/InSb/GaSb/InSb超晶格结构构成;其中,所述n型电极接触层(3)由若干个“M”型超晶格结构构成;该“M”型超晶格结构自下而上包括:10~20ML InAs/1~5ML GaSb/1~5ML AlSb/1~5ML GaSb,其中,ML表示原子层,所述InAs层的材料采用Si掺杂的InAs材料。 |
地址 |
100083 北京市海淀区清华东路甲35号 |