发明名称 具有芯片边缘密封的半导体器件
摘要 芯片边缘密封。本说明书涉及一种半导体器件,其具有半导体体身、半导体体身处的绝缘和单元场,所述单元场至少部分地设置在半导体体身中。该单元场具有至少一个p-n结和至少一个触点接通。所述绝缘在半导体体身的横向上由环绕的扩散壁垒限制。
申请公布号 CN103681787B 申请公布日期 2016.08.17
申请号 CN201310536514.4 申请日期 2013.09.18
申请人 英飞凌科技股份有限公司 发明人 G·布拉泽;P·内勒;G·欣德勒;M·聪德尔
分类号 H01L29/06(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;H01L21/762(2006.01)I 主分类号 H01L29/06(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 杜荔南;马永利
主权项 半导体器件(2、3、5、6),包括:‑半导体体身(10、13、15、16),‑半导体体身处的绝缘(40),‑至少部分在半导体体身中的单元场(20),所述单元场包括至少一个p‑n结和至少一个触点接通;其中绝缘(40)的单元区域(402、422、442)在半导体体身的横向上由环绕的扩散壁垒(70、700、701、702、707、708)限制,其中扩散壁垒在半导体器件的侧边缘(60)和单元场(20)之间的区域中与半导体体身接触,并且其中扩散壁垒(700、702)在侧边缘(60)和单元场(20)之间的区域中伸入到半导体体身的表面下面的区域中。
地址 德国瑙伊比贝尔格市坎芘昂1-12号