一种用于实现存储卡接口测试的逻辑替代方法和电路

摘要

本发明涉及一种用于实现存储卡接口测试的逻辑替代方法，其特征在于：利用同等尺寸的印制板替换标准规范的存储卡，且该印制板上具有与该存储卡对应的金手指触点位置，并总结归纳故障真值表以方便故障检测。本发明通过修改测试方法，设计相对应替代测试电路等针对性的提高存储卡测试效率、降低测试配件成本和人工操作成本，增加储存卡测试可靠性及稳定性；优化测试逻辑覆盖，提高自动化测试系统检测故障详细度、改善测试系统的兼容度。

主权项

一种用于实现存储卡接口测试的逻辑替代方法，其特征在于：利用同等尺寸的印制板替换标准规范的存储卡，且该印制板上具有与该存储卡对应的金手指触点位置，并总结归纳故障真值表以方便故障检测；其中，所述总结归纳故障真值表具体为，区分存储卡接口不同信号的电气特性及在连接器处的相对位置，并且考虑到测试通用性对模拟存储卡的触点进行分组分类；其中，对于TF存储测试卡，DAT2、DAT3、VDD和GND配置成一组测试模式，将CMD和DAT1以及CLK和DAT0跨管脚处理，分别单独配置成一组测试模式；其中，对于SD存储测试卡，DAT2、DAT3、VSS1、VSS2和GND配置成一组测试模式，将CMD和DAT1以及CLK和DAT0跨管脚处理，分别单独配置成一组测试模式。