发明名称 GaN基材料的侧壁加工工艺
摘要 本发明涉及一种GaN基材料的侧壁加工工艺,其特征是,包括以下步骤:(1)将GaN基材料进行正面切割,得到正面切割槽;(2)将切割后的GaN基材料浸入刻蚀溶液中进行刻蚀,对正面切割除槽的侧壁和/或底表面形状进行改变,刻蚀温度为20~105℃,刻蚀时间为0.1~1000分钟。所述刻蚀溶液采用KOH溶液。所述刻蚀溶液的浓度为0.1~20mol/L。经步骤(2)刻蚀溶液处理后,正面切割槽的形状为正梯形、倒梯形或矩形。经步骤(2)刻蚀溶液处理后,正面切割槽的侧壁为平滑表面或锯齿形表面。经步骤(2)刻蚀溶液处理后,正面切割槽的侧壁与底表面呈圆弧过渡。本发明所述加工工艺廉价、有效,能够得到不同形貌的GaN基材料的侧壁或表面。
申请公布号 CN105870006A 申请公布日期 2016.08.17
申请号 CN201610402689.X 申请日期 2016.06.08
申请人 江苏新广联半导体有限公司 发明人 张帆;李宏磊;吴永胜
分类号 H01L21/306(2006.01)I;H01L33/00(2010.01)I 主分类号 H01L21/306(2006.01)I
代理机构 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人 曹祖良;刘海
主权项 一种GaN基材料的侧壁加工工艺,其特征是,包括以下步骤:(1)将GaN基材料进行正面切割,得到正面切割槽;(2)将切割后的GaN基材料浸入刻蚀溶液中进行刻蚀,对正面切割除槽的侧壁和/或底表面形状进行改变,得到所需要形状的侧壁和底表面;刻蚀温度为20~105℃,刻蚀时间为0.1~1000分钟。
地址 214192 江苏省无锡市锡山经济开发区团结北路18号