基于双边带调制的光器件测量方法及测量装置

摘要

本发明公开了一种基于双边带调制的光器件测量方法，属于光器件测量、微波光子学技术领域。首先利用光双边带调制方法将射频信号调制于第一光载波信号上，生成双边带调制信号；然后令双边带调制信号通过待测光器件后与第二光载波信号合束，所述第二光载波信号与第一光载波信号之间存在频率差；利用光电探测器对合束后的信号进行拍频，然后提取拍频信号中+1阶边带信号及‑1阶边带信号的幅度信息；扫描所述射频信号的频率，即得到待测光器件的宽带幅频响应。本发明还公开了一种基于双边带调制的光器件测量装置。本发明在降低系统复杂度和成本的同时，大幅提高了测量范围和测量效率，更重要地是为光器件测量技术开辟了一个全新的方向。

主权项

基于双边带调制的光器件测量方法，其特征在于，首先利用光双边带调制方法将频率为的射频信号调制于频率为的第一光载波信号上，生成双边带调制信号；然后令双边带调制信号通过待测光器件后与第二光载波信号合束，所述第二光载波信号与第一光载波信号之间存在频率差；利用光电探测器对合束后的信号进行拍频，然后提取拍频信号中+1阶边带信号及‑1阶边带信号的幅度信息，该+1阶边带信号的幅度信息和‑1阶边带信号的幅度信息分别为待测光器件在频率和频率处的幅频响应；扫描所述射频信号的频率，即得到待测光器件的宽带幅频响应。