发明名称 |
用于校准一车辆测量用的参考系统的系统和方法 |
摘要 |
本发明涉及一种用于校准一车辆测量用的参考系统(3)的测量场系统(33),具有至少一个图像拍摄装置(9、61、62);一校准装置(32),其具有多个校准装置参考特征(29);以及一校准框架(1),其具有至少三个支承点(7),所述支承点构造用于容纳待校准的参考系统(3)用的参考系统支架(4)。所述校准框架(1)具有至少三个校准框架参考特征(20)并且所述支承点(7)和所述校准框架参考特征(20)在一共同的坐标系(K)中的位置是已知的。 |
申请公布号 |
CN103443580B |
申请公布日期 |
2016.08.17 |
申请号 |
CN201280015767.0 |
申请日期 |
2012.01.12 |
申请人 |
罗伯特·博世有限公司 |
发明人 |
J.巴克斯;S.霍迪森;V.尤芬坎普;C.瓦格曼;D.普尼克 |
分类号 |
G01B11/275(2006.01)I;G01B21/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/275(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
梁冰;杨国治 |
主权项 |
用于校准一车辆测量用的参考系统(3)的测量场系统(33),具有至少一个图像拍摄装置;一校准装置(32),其具有多个校准装置参考特征(29);以及一校准框架(1),其具有至少三个支承点(7),所述支承点构造用于容纳待校准的参考系统(3)用的参考系统支架(4);其特征在于,所述校准框架(1)具有至少三个校准框架参考特征并且所述支承点(7)和所述校准框架参考特征在一共同的坐标系(K)中的位置是已知的。 |
地址 |
德国斯图加特 |