发明名称 硅片偏心测试仪
摘要 硅片偏心测试仪,包括千分表、承载件、支撑座、测头和测试仪仪身,承载件安装在支撑座上,测试仪仪身位于承载件的一侧,千分表固定在测试仪仪身上,测头安装在千分表的底端并垂直指向承载件的中心,承载件为三足式形式,包括固定板、支架A、支架B和支架C,固定板为镂空式固定板,支架A、支架B和支架C均安装在镂空处。采用本发明对硅片的偏心量进行测量,无须采用国外进口昂贵的设备便能轻易得出硅片的偏心量,设备简单,价格低廉,测量方法也很方便,易于维修,适合于大量普通的生产光学器件公司的使用。
申请公布号 CN104048587B 申请公布日期 2016.08.17
申请号 CN201410274759.9 申请日期 2014.06.19
申请人 丹阳市鑫烨光学仪器有限公司 发明人 张华民;言利宏;言红平;马黎均;苏宝红
分类号 G01B5/252(2006.01)I 主分类号 G01B5/252(2006.01)I
代理机构 南京正联知识产权代理有限公司 32243 代理人 沈志海
主权项 硅片偏心测试仪,其特征在于:包括千分表(1)、承载件(2)、支撑座(3)、测头(4)和测试仪仪身(5),所述承载件(2)安装在所述支撑座(3)上,所述测试仪仪身(5)位于所述承载件(2)的一侧,所述千分表(1)固定在所述测试仪仪身(5)上,所述测头安装在所述千分表(1)的的底端并垂直指向所述承载件(2)的中心,所述承载件(2)为三足式形式,包括固定板(6)、支架A(7)、支架B(8)和支架C(9),所述固定板(6)为镂空式固定板(6),所述支架A(7)、支架B(8)和支架C(9)均安装在镂空处。
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