一种功率器件MOSFET特性测试实验装置

摘要

本实用新型涉及一种MOSFET特性测试实验装置，解决了现有技术的不足，技术方案为：包括MOSFET特性测试实验板、温度传感器、温控显示板和温度传感器固定板，所述温度传感器固定板包括支撑板和至少三根支撑杆，所述支撑杆的第一端均与所述支撑板连接，所述MOSFET特性测试实验板上开设有若干个连接孔，所述支撑杆的第二端插入连接孔与所述MOSFET特性测试实验板连接，所述支撑板的中部开设有通孔，所述温度传感器安装在所述支撑板的上表面，所述温度传感器的检测端贯穿通孔对准MOSFET特性测试实验板，所述温控显示板与所述温度传感器电连接。

主权项

一种MOSFET特性测试实验装置，其特征在于：包括MOSFET特性测试实验板、温度传感器、温控显示板和温度传感器固定板，所述温度传感器固定板包括支撑板和至少三根支撑杆，所述支撑杆的第一端均与所述支撑板连接，所述MOSFET特性测试实验板上开设有若干个连接孔，所述支撑杆的第二端插入连接孔与所述MOSFET特性测试实验板连接，所述支撑板的中部开设有通孔，所述温度传感器安装在所述支撑板的上表面，所述温度传感器的检测端贯穿通孔对准MOSFET特性测试实验板，所述温控显示板与所述温度传感器电连接。