发明名称 波导阵列天线高功率性能测试装置
摘要 本发明公开了一种波导阵列天线高功率性能测试装置,包括微波源,环形器,真空室,真空规管,待测天线单元,波导弧光探测器,陶瓷窗,波导弯头,定向耦合器,阻抗失配器和水负载等。微波源输出大功率微波;环行器用于吸收反射波,保护微波源;真空室用于建立、维持、并改变待测天线单元所处环境的真空度;真空规管用于测量真空室内部的真空度;波导弧光探测器用于探测待测天线单元内部的打火;陶瓷窗实现真空室与微波传输线的气体密封和能量传输;波导弯头用于改变微波传播方向;定向耦合器通过对微波信号进行取样,测量入射和反射功率大小;阻抗失配器的作用是人为引入传输失配,制造所需比例的反射功率;水负载用于吸收近乎全部的入射功率。
申请公布号 CN103954856B 申请公布日期 2016.08.17
申请号 CN201410095103.0 申请日期 2014.03.14
申请人 中国科学院等离子体物理研究所 发明人 刘亮;赵连敏;刘甫坤;朱文华
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 代理人 余成俊
主权项 波导阵列天线高功率性能测试装置,其特征在于:包括有供待测天线单元放置的真空室,真空室上安装有测量真空室内部真空度的真空规管,真空室一侧设置有微波源、环形器、第一陶瓷窗、第一波导弯头、第二波导弯头,所述微波源依次连接环形器、第一陶瓷窗、第一波导弯头的一端,第一波导弯头的另一端与第二波导弯头的一端连接,第二波导弯头另一端连接至真空室内待测天线单元的一端;真空室另一侧设置有水负载、阻抗失配器、定向耦合器、第二陶瓷窗、第三波导弯头、第四波导弯头,真空室内待测天线单元另一端与第三波导弯头一端连接,第三波导弯头另一端与第四波导弯头一端连接,第四波导弯头另一端依次连接第二陶瓷窗、定向耦合器、阻抗失配器、水负载;所述微波源输出大功率微波功率信号,微波功率信号依次经过环形器、陶瓷窗,再被第一波导弯头、第二波导弯头改变传播方向后,进入真空室中待测天线单元的一端,微波功率信号沿待测天线单元传播至第三波导弯头,经第三波导弯头、第四波导弯头改变传播方向后,经过第二陶瓷窗传播至定向耦合器,由定向耦合器对微波功率信号进行取样,测量入射和反射功率大小,定向耦合器中微波功率信号传播至阻抗失配器,通过阻抗失配器人为引入传输失配,制造所需比例的反射功率,阻抗失配器中微波功率最后传播至水负载,以水负载作为终端匹配装置,吸收近乎全部的微波入射功率。
地址 230031 安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路350号
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