发明名称 |
通过p型钝化实现增强型HEMT的方法及增强型HEMT |
摘要 |
本发明公开了一种通过p型钝化实现增强型HEMT的方法,其包括:提供主要由第一、第二半导体组成的异质结构,所述第二半导体分布于第一半导体上,并具有宽于第一半导体的带隙,且所述异质结构中形成有二维电子气;在所述第二半导体上形成p型掺杂的第三半导体;对所述第三半导体中除栅下区域之外的其余区域进行钝化处理,使p型掺杂区仅存在于栅下区域,所述栅下区域分布在所述HEMT器件的栅极正下方;制作与所述异质结构连接的源、漏、栅极,并使所述源、漏极能够通过所述二维电子气电连接,且使所述栅极分布于源、漏极之间。本发明还公开了一种增强型HEMT。本发明具有工艺简单,重复性高,器件性能稳定优良,成本低廉,易于进行大规模生产等优点。 |
申请公布号 |
CN105870013A |
申请公布日期 |
2016.08.17 |
申请号 |
CN201610403535.2 |
申请日期 |
2016.06.08 |
申请人 |
苏州能屋电子科技有限公司 |
发明人 |
宋亮;郝荣晖;付凯;张志利;孙世闯;李维毅;李夏珺;袁洁;于国浩;邓旭光;范亚明;蔡勇;张宝顺 |
分类号 |
H01L21/335(2006.01)I;H01L29/778(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/335(2006.01)I |
代理机构 |
南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 |
代理人 |
王锋 |
主权项 |
一种通过p型钝化实现增强型HEMT的方法,其特征在于包括:提供主要由第一半导体和第二半导体组成的异质结构,所述第二半导体分布于第一半导体上,并具有宽于第一半导体的带隙,且所述异质结构中形成有二维电子气;在所述第二半导体上形成p型掺杂的第三半导体;对所述第三半导体中除栅下区域之外的其余区域进行钝化处理,使p型掺杂区仅存在于栅下区域,所述栅下区域分布在所述HEMT器件的栅极正下方;以及,制作与所述异质结构连接的源极、漏极及栅极,并使所述源极和漏极能够通过所述二维电子气电连接,且使所述栅极分布于源极与漏极之间。 |
地址 |
215000 江苏省苏州市工业园区星湖街218号生物纳米园A4楼110B室 |