发明名称 通过p型钝化实现增强型HEMT的方法及增强型HEMT
摘要 本发明公开了一种通过p型钝化实现增强型HEMT的方法,其包括:提供主要由第一、第二半导体组成的异质结构,所述第二半导体分布于第一半导体上,并具有宽于第一半导体的带隙,且所述异质结构中形成有二维电子气;在所述第二半导体上形成p型掺杂的第三半导体;对所述第三半导体中除栅下区域之外的其余区域进行钝化处理,使p型掺杂区仅存在于栅下区域,所述栅下区域分布在所述HEMT器件的栅极正下方;制作与所述异质结构连接的源、漏、栅极,并使所述源、漏极能够通过所述二维电子气电连接,且使所述栅极分布于源、漏极之间。本发明还公开了一种增强型HEMT。本发明具有工艺简单,重复性高,器件性能稳定优良,成本低廉,易于进行大规模生产等优点。
申请公布号 CN105870013A 申请公布日期 2016.08.17
申请号 CN201610403535.2 申请日期 2016.06.08
申请人 苏州能屋电子科技有限公司 发明人 宋亮;郝荣晖;付凯;张志利;孙世闯;李维毅;李夏珺;袁洁;于国浩;邓旭光;范亚明;蔡勇;张宝顺
分类号 H01L21/335(2006.01)I;H01L29/778(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I 主分类号 H01L21/335(2006.01)I
代理机构 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人 王锋
主权项 一种通过p型钝化实现增强型HEMT的方法,其特征在于包括:提供主要由第一半导体和第二半导体组成的异质结构,所述第二半导体分布于第一半导体上,并具有宽于第一半导体的带隙,且所述异质结构中形成有二维电子气;在所述第二半导体上形成p型掺杂的第三半导体;对所述第三半导体中除栅下区域之外的其余区域进行钝化处理,使p型掺杂区仅存在于栅下区域,所述栅下区域分布在所述HEMT器件的栅极正下方;以及,制作与所述异质结构连接的源极、漏极及栅极,并使所述源极和漏极能够通过所述二维电子气电连接,且使所述栅极分布于源极与漏极之间。
地址 215000 江苏省苏州市工业园区星湖街218号生物纳米园A4楼110B室