| 发明名称 | 采用分布式偏振串扰分析仪全面评判保偏光纤特性的方法和装置 | ||
| 摘要 | 公开了测量双折射材料的偏振相关参数的方法和装置，该方法包括：沿一段长度的双折射材料预设一系列已知距离周期的偏振串扰峰；引入探测光进入双折射材料，并检测从双折射材料出来的探测光；处理检测到的探测光，来确定感应到的已知距离周期的偏振串扰峰位置和宽度；并使用得到的已知距离周期的偏振串扰峰的位置和宽度，来提取双折射材料的一个或多个偏振相关参数。 | ||
| 申请公布号 | CN105865752A | 申请公布日期 | 2016.08.17 |
| 申请号 | CN201610136460.6 | 申请日期 | 2016.03.10 |
| 申请人 | 苏州光环科技有限公司 | 发明人 | 姚晓天;李志宏 |
| 分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人 | 王程;何冲 |
| 主权项 | 一种双折射材料的偏振相关参数的测量方法,包括：沿一段长度的双折射材料诱导一系列已知距离周期偏振串扰峰；引入探测光进入双折射材料，并检测从双折射材料出来的探测光；处理检测到的探测光，来确定感应等距离周期性偏振串扰峰的位置和宽度；使用得到的等距离周期性偏振串扰峰的位置和宽度，来提取双折射材料的一个或多个偏振相关参数。 | ||
| 地址 | 215021 江苏省苏州市苏州市工业园区星湖街328号创意产业园1-B202单元 | ||