发明名称 一种MOSFET及其制备方法
摘要 本发明公开了一种MOSFET,包括漏极、源极和栅极,且所述漏极、源极和栅极设于同侧。本发明还公开了一种MOSFET的制备方法,包括以下步骤:在掩蔽层的掩蔽下对外延层进行沟槽刻蚀,形成沟槽;栅氧生长和多晶硅栅淀积;多晶硅栅刻蚀和沟道注入区光刻和注入、退火、源区光刻和注入;进行漏区通孔光刻:进行漏区通孔刻蚀,并淀积通孔隔离介质;保留漏区通孔侧壁上的隔离介质:进行引出孔光刻,刻蚀:淀积第一金属层,填充源极引出孔和漏极引出孔及栅极引出孔;对第一金属层进行化学机械抛光;淀积第二金属,光刻,刻蚀;钝化层淀积及引出孔光刻、刻蚀。本发明将漏端从芯片背面引到芯片正面,从而满足在芯片正面打线接触的封装要求。
申请公布号 CN105870172A 申请公布日期 2016.08.17
申请号 CN201610273984.X 申请日期 2016.04.28
申请人 上海格瑞宝电子有限公司 发明人 高盼盼;代萌
分类号 H01L29/41(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L29/41(2006.01)I
代理机构 中国商标专利事务所有限公司 11234 代理人 王瑞
主权项 一种MOSFET,其特征在于,包括漏极、源极和栅极,且所述漏极、源极和栅极设于同侧。
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区盛夏路560号905B室