发明名称 |
一种MOSFET及其制备方法 |
摘要 |
本发明公开了一种MOSFET,包括漏极、源极和栅极,且所述漏极、源极和栅极设于同侧。本发明还公开了一种MOSFET的制备方法,包括以下步骤:在掩蔽层的掩蔽下对外延层进行沟槽刻蚀,形成沟槽;栅氧生长和多晶硅栅淀积;多晶硅栅刻蚀和沟道注入区光刻和注入、退火、源区光刻和注入;进行漏区通孔光刻:进行漏区通孔刻蚀,并淀积通孔隔离介质;保留漏区通孔侧壁上的隔离介质:进行引出孔光刻,刻蚀:淀积第一金属层,填充源极引出孔和漏极引出孔及栅极引出孔;对第一金属层进行化学机械抛光;淀积第二金属,光刻,刻蚀;钝化层淀积及引出孔光刻、刻蚀。本发明将漏端从芯片背面引到芯片正面,从而满足在芯片正面打线接触的封装要求。 |
申请公布号 |
CN105870172A |
申请公布日期 |
2016.08.17 |
申请号 |
CN201610273984.X |
申请日期 |
2016.04.28 |
申请人 |
上海格瑞宝电子有限公司 |
发明人 |
高盼盼;代萌 |
分类号 |
H01L29/41(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/41(2006.01)I |
代理机构 |
中国商标专利事务所有限公司 11234 |
代理人 |
王瑞 |
主权项 |
一种MOSFET,其特征在于,包括漏极、源极和栅极,且所述漏极、源极和栅极设于同侧。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区盛夏路560号905B室 |