| 发明名称 | 大颗粒物料的近红外光谱分析装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型提供了一种大颗粒物料的近红外光谱分析装置，所述近红外光谱分析装置包括分析仪表；采样单元，所述采样单元用于采样待测样品，并送粉碎单元；粉碎单元，所述粉碎单元用于粉碎传送来的待测样品，粉碎后的待测样品送分析仪表分析；留样单元，所述留样单元安装在所述粉碎单元的下游，用于留样分析后的待测样品。本实用新型具有精度高等优点。 | ||
| 申请公布号 | CN205484031U | 申请公布日期 | 2016.08.17 |
| 申请号 | CN201521140478.0 | 申请日期 | 2015.12.31 |
| 申请人 | 聚光科技（杭州）股份有限公司 | 发明人 | 周新奇;韩双来;郭中原;杨伟伟;陈胜福;慎石磊;张丹;胡杰;吴键波 |
| 分类号 | G01N21/359(2014.01)I;G01N21/3563(2014.01)I | 主分类号 | G01N21/359(2014.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种大颗粒物料的近红外光谱分析装置，所述近红外光谱分析装置包括分析仪表；其特征在于：所述近红外光谱分析装置进一步包括：采样单元，所述采样单元用于采样待测样品，并送粉碎单元；粉碎单元，所述粉碎单元用于粉碎传送来的待测样品，粉碎后的待测样品送分析仪表分析；留样单元，所述留样单元安装在所述粉碎单元的下游，用于留样分析后的待测样品。 | ||
| 地址 | 310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号 | ||