一种原子力显微镜检测单分子水平分子间相互作用的方法

摘要

本发明公开了一种原子力显微镜用于检测单分子水平分子间相互作用的方法，在基底表面修饰DNA1和在AFM探针上修饰DNA2；当AFM探针与基底表面靠近时，通过DNA1与DNA2的互补杂交，形成DNA1/DNA2双链结构；采用切刻内切酶特异性识别双链DNA1/DNA2中的特定序列，并将单链DNA1切断；然后采用原子力显微镜检测DNA之间的作用力，从而检测出DNA双链在切刻内切酶剪切前后DNA之间相互作用力的变化。

主权项

一种原子力显微镜用于检测单分子水平分子间相互作用的方法，其特征是：在基底表面修饰DNA1和在AFM探针上修饰DNA2，所述AFM探针修饰DNA2的具体方法是：将AFM探针进行羟基化修饰，得到羟基修饰的AFM探针，然后活化羟基修饰的AFM探针，将活化后的AFM探针与氨基修饰的DNA2进行固定反应，取出AFM探针，对AFM探针进行后处理；当AFM探针与基底表面靠近时，通过DNA1与DNA2的互补杂交，形成DNA1/DNA2双链结构，其中，所述基底表面上修饰DNA1的具体方法是：基底采用金基底，首先预处理金基底，然后将处理好的金基底与巯基修饰的DNA1进行固定反应，37 ^oC反应3小时以上；采用切刻内切酶特异性识别双链DNA1/DNA2中的特定序列，并将单链DNA1切断；然后采用原子力显微镜检测DNA之间的作用力，从而检测出DNA双链在切刻内切酶剪切前后DNA之间相互作用力的变化。