发明名称 滤光片缺陷特征参数选择的熵方法
摘要 本发明公开了一种滤光片缺陷特征参数选择的熵方法,包括:从缺陷滤光片图像中分割出包含缺陷的外接矩形,形成缺陷ROI;设置候选特征集F的元素,设置已选特征集S为空集;计算缺陷ROI特征值,构造样本集合;计算候选特征f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>与类C的归一化互信息SU(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,C);根据SU(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,C)最大值选出S的第一个元素s<sub>1</sub>;去除候选特征集F中已选入S的特征及归一化互信息SU(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,C)小于阈值的候选特征;计算候选特征集F中每个候选特征f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>的评价函数J(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,C,S)的值;根据评价函数J(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,C,S)最大值选出已选特征集S的下一个元素;去除候选特征集F中已选入S的特征及评价函数J(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,C,S)小于阈值的候选特征;判断候选特征集F是否空集;输出已选特征。
申请公布号 CN103500336B 申请公布日期 2016.08.17
申请号 CN201310449476.9 申请日期 2013.09.24
申请人 华南理工大学 发明人 吴俊芳;刘桂雄;付梦瑶
分类号 G06K9/46(2006.01)I 主分类号 G06K9/46(2006.01)I
代理机构 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 代理人 李振文
主权项 一种滤光片缺陷特征参数选择的熵方法,其特征在于,所述方法包括:分割缺陷滤光片图像中包含缺陷的外接矩形,形成缺陷ROI;设置候选特征集F的元素,设置已选特征集S为空集;计算所述缺陷ROI的特征值,通过特征值构造样本集合;计算样本集合中所有样本的候选特征f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>与类C的归一化互信息SU(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,C);根据归一化互信息SU(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,C)最大值选出已选特征集S的第一个元素s<sub>1</sub>;去除候选特征集F中已选入S的特征及归一化互信息SU(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,C)小于阈值的候选特征;计算候选特征集F中每个候选特征f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>的评价函数J(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,C,S)的值;根据评价函数J(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,C,S)最大值选出已选特征集S的下一个元素;去除候选特征集F中已选入S的特征及评价函数J(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,C,S)小于阈值的候选特征;重复该步骤,直至候选特征集F为空集;已选特征集S的元素即为滤光片缺陷特征参数;J(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,C,S)=SU(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,C)-max[SU(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,s<sub>1</sub>),…,SU(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,s<sub>R</sub>)]所述评价函数J(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,C,S)中s<sub>1</sub>,…,s<sub>R</sub>是当前已选特征集S中的全部元素;所述归一化互信息SU(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,C)与评价函数J(f<sub>i</sub>f<sub>k</sub>,C,S)均利用熵来计算,计算时先将候选特征的连续取值离散化,再按熵的公式计算。
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