发明名称 晶圆表面检测设备
摘要 本实用新型涉及一种晶圆表面检测设备,上述晶圆表面检测设备包括运动平台和检测组件;运动平台包括X轴轨道和Y轴轨道,检测组件与X轴轨道连接,检测组件能够在X轴轨道上滑动,晶圆能够在Y轴轨道上滑动至检测组件的下方;检测组件包括相互固定连接的相机、镜头和光源,晶圆位于检测组件下方时,相机正对晶圆,镜头位于相机和晶圆之间,光源朝向晶圆。通过上述晶圆表面检测设备进行检测,检测结果准确,不会损伤晶圆,安全可靠,而且能够提高检测效率。若待检测的晶圆的数量为多片,检测组件在X轴轨道上移动,晶圆在Y轴轨道上移动,检测组件可以依次对多个晶圆拍照,在保证准确率的前提下,进一步的提高了检测效率。
申请公布号 CN205484099U 申请公布日期 2016.08.17
申请号 CN201620244498.0 申请日期 2016.03.28
申请人 大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳市大族电机科技有限公司 发明人 李玉廷;王光能;舒远;李雷生;闫静;方伟;高云峰
分类号 G01N21/88(2006.01)I 主分类号 G01N21/88(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 刘雯
主权项 一种晶圆表面检测设备,用于对晶圆的表面进行检测,其特征在于,包括运动平台和检测组件;所述运动平台包括X轴轨道和Y轴轨道,所述检测组件与所述X轴轨道连接,所述检测组件能够在所述X轴轨道上滑动,所述晶圆能够在所述Y轴轨道上滑动至所述检测组件的下方;所述检测组件包括相互固定连接的相机、镜头和光源,所述晶圆位于所述检测组件下方时,所述相机正对所述晶圆,所述镜头位于所述相机和所述晶圆之间,所述光源朝向所述晶圆。
地址 518000 广东省深圳市南山区高新技术园北区新西路9号大族激光大厦