发明名称 |
晶圆表面检测设备 |
摘要 |
本实用新型涉及一种晶圆表面检测设备,上述晶圆表面检测设备包括运动平台和检测组件;运动平台包括X轴轨道和Y轴轨道,检测组件与X轴轨道连接,检测组件能够在X轴轨道上滑动,晶圆能够在Y轴轨道上滑动至检测组件的下方;检测组件包括相互固定连接的相机、镜头和光源,晶圆位于检测组件下方时,相机正对晶圆,镜头位于相机和晶圆之间,光源朝向晶圆。通过上述晶圆表面检测设备进行检测,检测结果准确,不会损伤晶圆,安全可靠,而且能够提高检测效率。若待检测的晶圆的数量为多片,检测组件在X轴轨道上移动,晶圆在Y轴轨道上移动,检测组件可以依次对多个晶圆拍照,在保证准确率的前提下,进一步的提高了检测效率。 |
申请公布号 |
CN205484099U |
申请公布日期 |
2016.08.17 |
申请号 |
CN201620244498.0 |
申请日期 |
2016.03.28 |
申请人 |
大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳市大族电机科技有限公司 |
发明人 |
李玉廷;王光能;舒远;李雷生;闫静;方伟;高云峰 |
分类号 |
G01N21/88(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/88(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
刘雯 |
主权项 |
一种晶圆表面检测设备,用于对晶圆的表面进行检测,其特征在于,包括运动平台和检测组件;所述运动平台包括X轴轨道和Y轴轨道,所述检测组件与所述X轴轨道连接,所述检测组件能够在所述X轴轨道上滑动,所述晶圆能够在所述Y轴轨道上滑动至所述检测组件的下方;所述检测组件包括相互固定连接的相机、镜头和光源,所述晶圆位于所述检测组件下方时,所述相机正对所述晶圆,所述镜头位于所述相机和所述晶圆之间,所述光源朝向所述晶圆。 |
地址 |
518000 广东省深圳市南山区高新技术园北区新西路9号大族激光大厦 |