发明名称 一种基于性能退化的离子推力器小子样可靠性评估方法
摘要 一种基于性能退化的离子推力器小子样可靠性评估方法,包括以下步骤:一:对离子推力器的结构特点和关键失效模式进行分析,选取影响其寿命的关键性能参数;二:根据关键性能参数y随时间的退化规律,建立离子推力器小子样性能退化模型;三:确定离子推力器平均失效时间t<sub>MTTF</sub>和可靠度函数R(t);四:对第i台离子推力器,记录在时间t<sub>ij</sub>时的测试性能退化值y<sub>ij</sub>,i=1,2,...,m,j=1,2,...,n<sub>i</sub>,m为投入试验的离子推力器台数,n<sub>i</sub>为第i台离子推力器性能测试的总次数;五:估计性能退化模型中的未知参数;六:利用可靠度函数对离子推力器进行小子样可靠性评估。本发明开发利用不同时刻性能测试数据间的纵向信息,使信息量大幅增加。提高分析精度,同时在精度相同的情况下,则可节省大量试样。
申请公布号 CN105844095A 申请公布日期 2016.08.10
申请号 CN201610165279.8 申请日期 2016.03.22
申请人 北京航空航天大学 发明人 李军星;王治华;张勇波;傅惠民
分类号 G06F19/00(2011.01)I 主分类号 G06F19/00(2011.01)I
代理机构 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 代理人 王顺荣;唐爱华
主权项 一种基于性能退化的离子推力器小子样可靠性评估方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:对离子推力器的结构特点和关键失效模式进行分析,选取影响其寿命的关键性能参数;步骤二:根据关键性能参数y随时间的退化规律,建立离子推力器小子样性能退化模型;步骤三:确定离子推力器平均失效时间t<sub>MTTF</sub>和可靠度函数R(t);步骤四:对第i台离子推力器,记录在时间t<sub>ij</sub>时的测试性能退化值y<sub>ij</sub>,i=1,2,...,m,j=1,2,...,n<sub>i</sub>,m为投入试验的离子推力器台数,n<sub>i</sub>为第i台离子推力器性能测试的总次数;步骤五:估计性能退化模型中的未知参数;步骤六:利用可靠度函数对离子推力器进行小子样可靠性评估。
地址 100191 北京市海淀区学院路37号