发明名称 | 一种基于MLTT的IO功能测试方法 | ||
摘要 | 本发明公开一种基于MLTT的IO功能测试方法,属于服务器技术IO测试领域;本发明根据测试需求选择对应MLTT测试模块,测试模块根据测试参数进行测试:使用MLTT对存储作IO的IOPS性能测试及throughput性能测试,分别创建test plan,选中所要测试的target,将targets置入test plan,选择合适的测试模板进行测试;使用MLTT对存储作压力性能测试,导入测试脚本,进行压力测试;所有测试完成输出结果到日志;本发明通过MLTT工具及测试脚本紧密结合,对各类接口的存储进行IO性能测试,从而更好的判断存储设备的性能,极大的提高性能及稳定性测试的质量及效率。 | ||
申请公布号 | CN105843716A | 申请公布日期 | 2016.08.10 |
申请号 | CN201610200373.2 | 申请日期 | 2016.04.01 |
申请人 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 发明人 | 姜敏 |
分类号 | G06F11/22(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/22(2006.01)I |
代理机构 | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人 | 姜明 |
主权项 | 一种基于MLTT的IO功能测试方法,其特征是根据测试需求修改测试脚本参数,或者手动添加测试参数;根据测试需求选择对应MLTT测试模块,测试模块根据测试参数进行测试:其中使用MLTT对存储作IO的IOPS性能测试及throughput性能测试,分别创建test plan,选中所要测试的target,将targets置入 test plan,选择合适的测试模板进行测试;使用MLTT对存储作压力性能测试,导入测试脚本,进行压力测试;所有测试完成输出结果到日志。 | ||
地址 | 250101 山东省济南市高新区浪潮路1036号 |