发明名称 滑动式探针测试装置
摘要 本实用新型提供了一种滑动式探针测试装置,其包括:产品承载部,其上用于放置测试产品;驱动部,其带动测试产品作线性运动;探针部,其固定安装于支架上并保持在固定位置,探针部的针头延伸至产品承载部的测试位,测试产品被输送到测试位后与针头接触。本实用新型以滑动测试的方式对测试产品进行测试,从而使得测试不具有停顿的时间,测试效率得到明显的提高,同时取消了压测的方式,可以有效地保护产品不受损伤。
申请公布号 CN205450156U 申请公布日期 2016.08.10
申请号 CN201521074906.4 申请日期 2015.12.22
申请人 昆山万盛电子有限公司 发明人 杨必祥;程传波;吴伟;胡鹏;石怡
分类号 G01R31/01(2006.01)I;G01R1/067(2006.01)I 主分类号 G01R31/01(2006.01)I
代理机构 北京恩赫律师事务所 11469 代理人 宋波
主权项 滑动式探针测试装置,其特征在于,包括:产品承载部(1),其上用于放置测试产品(2);驱动部(3),其带动所述测试产品(2)作线性运动;探针部(4),其固定安装于支架(42)上并保持在固定位置,所述探针部(4)的针头(41)延伸至产品承载部(1)的测试位(11),所述测试产品(2)被输送到所述测试位(11)后与所述针头(41)接触。
地址 215300 江苏省苏州市昆山市经济技术开发区同丰东路585号