发明名称 |
滑动式探针测试装置 |
摘要 |
本实用新型提供了一种滑动式探针测试装置,其包括:产品承载部,其上用于放置测试产品;驱动部,其带动测试产品作线性运动;探针部,其固定安装于支架上并保持在固定位置,探针部的针头延伸至产品承载部的测试位,测试产品被输送到测试位后与针头接触。本实用新型以滑动测试的方式对测试产品进行测试,从而使得测试不具有停顿的时间,测试效率得到明显的提高,同时取消了压测的方式,可以有效地保护产品不受损伤。 |
申请公布号 |
CN205450156U |
申请公布日期 |
2016.08.10 |
申请号 |
CN201521074906.4 |
申请日期 |
2015.12.22 |
申请人 |
昆山万盛电子有限公司 |
发明人 |
杨必祥;程传波;吴伟;胡鹏;石怡 |
分类号 |
G01R31/01(2006.01)I;G01R1/067(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/01(2006.01)I |
代理机构 |
北京恩赫律师事务所 11469 |
代理人 |
宋波 |
主权项 |
滑动式探针测试装置,其特征在于,包括:产品承载部(1),其上用于放置测试产品(2);驱动部(3),其带动所述测试产品(2)作线性运动;探针部(4),其固定安装于支架(42)上并保持在固定位置,所述探针部(4)的针头(41)延伸至产品承载部(1)的测试位(11),所述测试产品(2)被输送到所述测试位(11)后与所述针头(41)接触。 |
地址 |
215300 江苏省苏州市昆山市经济技术开发区同丰东路585号 |