发明名称 |
一种半导体器件及其制作方法和电子装置 |
摘要 |
本发明提供一种半导体器件及其制作方法和电子装置,包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底上形成有集成电路,以及围绕所述集成电路的保护环结构,其中,所述保护环结构包括层叠的若干金属层和通孔,在相邻金属层之间还形成有层间介电层;在所述保护环结构的上方形成具有开口的第一钝化层,所述开口暴露部分所述保护环结构的顶部金属层;形成填充所述开口并覆盖部分所述第一钝化层表面的保护金属层;在所述保护金属层和所述第一钝化层暴露的表面上形成第二钝化层;在所述第二钝化层内形成若干孔洞;采用有机化合物填充所述孔洞。根据本发明的方法,有效释放金属焊线对第二钝化层的额外应力作用,不会产生金属焊线与保护金属层桥接短路的问题。 |
申请公布号 |
CN105845665A |
申请公布日期 |
2016.08.10 |
申请号 |
CN201510024420.8 |
申请日期 |
2015.01.16 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
宋春 |
分类号 |
H01L23/58(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/58(2006.01)I |
代理机构 |
北京市磐华律师事务所 11336 |
代理人 |
董巍;高伟 |
主权项 |
一种半导体器件的制作方法,包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底上形成有集成电路,以及围绕所述集成电路的保护环结构,其中,所述保护环结构包括层叠的若干金属层和通孔,在相邻金属层之间还形成有层间介电层;在所述保护环结构的上方形成具有开口的第一钝化层,所述开口暴露部分所述保护环结构的顶部金属层;形成填充所述开口并覆盖部分所述第一钝化层表面的保护金属层;在所述保护金属层和所述第一钝化层暴露的表面上形成第二钝化层;在所述第二钝化层内形成若干孔洞;采用有机化合物填充所述孔洞。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |