发明名称 一种半导体器件及其制作方法和电子装置
摘要 本发明提供一种半导体器件及其制作方法和电子装置,包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底上形成有集成电路,以及围绕所述集成电路的保护环结构,其中,所述保护环结构包括层叠的若干金属层和通孔,在相邻金属层之间还形成有层间介电层;在所述保护环结构的上方形成具有开口的第一钝化层,所述开口暴露部分所述保护环结构的顶部金属层;形成填充所述开口并覆盖部分所述第一钝化层表面的保护金属层;在所述保护金属层和所述第一钝化层暴露的表面上形成第二钝化层;在所述第二钝化层内形成若干孔洞;采用有机化合物填充所述孔洞。根据本发明的方法,有效释放金属焊线对第二钝化层的额外应力作用,不会产生金属焊线与保护金属层桥接短路的问题。
申请公布号 CN105845665A 申请公布日期 2016.08.10
申请号 CN201510024420.8 申请日期 2015.01.16
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 宋春
分类号 H01L23/58(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L23/58(2006.01)I
代理机构 北京市磐华律师事务所 11336 代理人 董巍;高伟
主权项 一种半导体器件的制作方法,包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底上形成有集成电路,以及围绕所述集成电路的保护环结构,其中,所述保护环结构包括层叠的若干金属层和通孔,在相邻金属层之间还形成有层间介电层;在所述保护环结构的上方形成具有开口的第一钝化层,所述开口暴露部分所述保护环结构的顶部金属层;形成填充所述开口并覆盖部分所述第一钝化层表面的保护金属层;在所述保护金属层和所述第一钝化层暴露的表面上形成第二钝化层;在所述第二钝化层内形成若干孔洞;采用有机化合物填充所述孔洞。
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号