发明名称 |
一种在离子阱质量分析器中进行的串级质谱分析方法 |
摘要 |
本发明属于质谱分析技术领域,具体为一种在离子阱质量分析器中进行的串级质谱分析方法。该方法具体包括离子选择性隔离、碰撞诱导解离和质量扫描分析三个阶段。本发明在碰撞诱导解离阶段,通过改变射频信号的周期大小,即通过改变加载在离子阱上的射频电压的频率,使得具有一定质荷比的母体离子被共振激发而获得能量,这些被共振激发的高能量离子与离子阱中的中性分子发生碰撞而发生解离,生成产物离子,以实现串级质谱分析。该方法的优点在于,它仅通过软件设置改变碰撞诱导解离阶段的扫描周期即可实现碰撞诱导解离,可以显著简化串级质谱分析的实验装置和方法。 |
申请公布号 |
CN103413751B |
申请公布日期 |
2016.08.10 |
申请号 |
CN201310303472.X |
申请日期 |
2013.07.18 |
申请人 |
复旦大学 |
发明人 |
徐福兴;王亮;丁传凡 |
分类号 |
H01J49/42(2006.01)I;H01J49/02(2006.01)I;G01N27/62(2006.01)I |
主分类号 |
H01J49/42(2006.01)I |
代理机构 |
上海正旦专利代理有限公司 31200 |
代理人 |
陆飞;盛志范 |
主权项 |
一种在离子阱质量分析器中进行的串级质谱分析方法,其特征在于:依次分为离子选择隔离、碰撞诱导解离和质量扫描分析三个阶段;其中:在所述离子选择隔离阶段,被选择的母离子被隔离,被隔离的母离子在离子阱工作电压产生的电场作用下,通过与中性气体分子的碰撞冷却被束缚在离子阱中;在所述碰撞诱导解离阶段,通过改变束缚电压的周期改变加载在离子阱电极上的离子激发射频电压信号周期的大小,从而改变了离子共振激发射频电压的周期,使得具有一定质荷比的离子被具有某一周期或频率的离子激发射频电压共振激发而获得较高的能量;被共振激发的离子与离子阱中的中性分子发生碰撞并发生解离产生碎片离子,碎片离子在离子阱中经过冷却后被束缚,以进行后续的质量分析;在所述质量扫描分析阶段,离子阱中的离子在离子阱电极上加载的偶极激发电压的作用下,发生共振激发,最终从离子引出电极的引出孔或引出槽中被逐出,并被设置在离子阱外的离子探测器检测而获得离子的质谱信号。 |
地址 |
200433 上海市杨浦区邯郸路220号 |