| 发明名称 | 主观题阅卷方法及其装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种主观题阅卷方法及其装置，涉及计算机技术领域，能够降低给分过程中出错的概率。该主观题阅卷方法，包括：响应于用户操作指令在主观题内容界面生成多个批阅标记，每个批阅标记对应有预设分值；根据所述多个批阅标记和每个批阅标记对应的预设分值生成相应的主观题分数。 | ||
| 申请公布号 | CN105844255A | 申请公布日期 | 2016.08.10 |
| 申请号 | CN201610213524.8 | 申请日期 | 2016.04.07 |
| 申请人 | 北京华云天一科技有限公司 | 发明人 | 鲍洋 |
| 分类号 | G06K9/00(2006.01)I | 主分类号 | G06K9/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种主观题阅卷方法，其特征在于，包括：响应于用户操作指令在主观题内容界面生成多个批阅标记，每个批阅标记对应有预设分值；根据所述多个批阅标记和每个批阅标记对应的预设分值生成相应的主观题分数。 | ||
| 地址 | 100085 北京市海淀区上地四街8号楼2层226 | ||